SEMとは?

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セム [1]SEMscanning electron microscope

走査型電子顕微鏡そうさがたでんしけんびきよう

セム Sem ○

旧約聖書中の人物。ノア息子ハム兄弟。アッシリア・アラビア・イスラエル・アラムなどの民族の祖とされている。

SEM

scanning electron microscope
走査型電子顕微鏡そうさがたでんしけんびきよう

SEM


SEM

フルスペル:Search Engine Marketing
読み方サーチエンジンマーケティング
別名:検索エンジンマーケティング

SEMとは、検索エンジンから自社サイト誘導して商品サービス購買につなげるマーケティング手法のことである。

検索エンジンにおける検索結果の上位にサイト表示されるように最適化するSEOと、GoogleアドワーズOvertureスポンサードサーチなどのPPC広告組み合わせる比較的単純な作業を指す場合もあれば、サイト誘導したときに最初に辿り着かせるページサイト内のユーザー導線まで考慮してサイト構成決めるような本格的作業を指す場合もある。

マーケティング分野では、「検索エンジンで検索した結果からサイト辿り着く人は関心が高い」という経験則が知られており、SEOは、顧客心理分析して購買へつなげるには最適手法である。そのためインターネット上の広告宣伝方法としてROI費用対効果)が最も高いと考えられている。

なお、SEMは、短期的には効果が出にくく、アクセスログ解析しながら適時分析調整行い長期的、かつ、継続的に進めていく必要がある

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走査電子顕微鏡 SEM: scanning electron microscope


走査電子顕微鏡学 SEM: scanning electron microscopy


走査電子顕微鏡法 SEM: scanning electron microscopy

走査電子顕微鏡を使った観察法。

走査電子顕微鏡(セム)

略語:SEM
【英】:scanning electron microscope

バルク試料表面微小電子プローブ走査し、表面から放出される二次電子反射電子検出器で受け、その強度プローブ走査同期させて、コンピュータモニタ上に輝点列の像として表示する電子顕微鏡二次電子からバルク試料表面微細構造形態が、反射電子から組成違い観察できる。EDSWDSはじめとする様々な分析機能付加して使われている。SEMの分解能決める重要な要素入射ビーム試料上でのプローブサイズである。プローブサイズを小さくするには第一に電子源大きさ小さくすることである。搭載されている電子銃冷陰極電解放出電子銃ショットキー型電子銃,LaB6電子銃タングステン電子銃の順でプローブサイズは大きくなる第二対物レンズタイプによって絞れるビームサイズが決まる。対物レンズには1)アウトレンズ、2)シュノーケルレンズ、3)インレンズがある。アウトレンズ型では大きな試料傾斜しても像が得られるように、試料対物レンズ下方に置く。試料対す制限がゆるい代わりにレンズ焦点距離長くなり小さビームは得られにくい。インレンズ型ではTEMのように対物レンズ中に試料挿入する。焦点距離を短くでき小さなプローブが得られる。ただし、試料大きさは数mm制限される。シュノーケル型(潜水用具に形が似ていることによる命名)は前二者中間的存在で、試料レンズの下に置かれ,比較小さプローブ比較大き試料扱えるように設計されている。低い加速電圧では色収差効果により分解能は下がる。分解能加速電圧20〜30kVで定義されている。分解能具体数値は,超高分解能型で約1nm、汎用型で10nm程度CsコレクタCcコレクタ使用すると入射ビーム微小化が可能であるが、取り込み角大きくなるために焦点深度浅くなりすぎる欠点がある。入射電子加速電圧下げると電子進入深さ減り反射電子によって生成される二次電子空間的な広がりが減るために像のコントラストが向上する。低加速利点バックグラウンド減少のほかに帯電減少試料損傷減少がある。SEMでは帯電が像の質を落とす。入射電子量が流出電子量を上回る帯電が起き、像が乱れ異常なコントラスト形成される。非伝導試料場合には,帯電防止のために貴金属Al,Cのコ−ティングが行われる。低真空SEMではコーティングなしに非伝導試料観察できる場合もある。

関連する用語


走査電子顕微鏡(セム)

略語:SEM
【英】:scanning electron microscope

バルク試料表面微小電子プローブ走査し、表面から放出される二次電子反射電子検出器で受け、その強度プローブ走査同期させて、コンピュータモニタ上に輝点列の像として表示する電子顕微鏡二次電子からバルク試料表面微細構造形態が、反射電子から組成違い観察できる。EDSWDSはじめとする様々な分析機能付加して使われている。SEMの分解能決める重要な要素入射ビーム試料上でのプローブサイズである。プローブサイズを小さくするには第一に電子源大きさ小さくすることである。搭載されている電子銃冷陰極電解放出電子銃ショットキー型電子銃,LaB6電子銃タングステン電子銃の順でプローブサイズは大きくなる第二対物レンズタイプによって絞れるビームサイズが決まる。対物レンズには1)アウトレンズ、2)シュノーケルレンズ、3)インレンズがある。アウトレンズ型では大きな試料傾斜しても像が得られるように、試料対物レンズ下方に置く。試料対す制限がゆるい代わりにレンズ焦点距離長くなり小さビームは得られにくい。インレンズ型ではTEMのように対物レンズ中に試料挿入する。焦点距離を短くでき小さなプローブが得られる。ただし、試料大きさは数mm制限される。シュノーケル型(潜水用具に形が似ていることによる命名)は前二者中間的存在で、試料レンズの下に置かれ,比較小さプローブ比較大き試料扱えるように設計されている。低い加速電圧では色収差効果により分解能は下がる。分解能加速電圧20〜30kVで定義されている。分解能具体数値は,超高分解能型で約1nm、汎用型で10nm程度CsコレクタCcコレクタ使用すると入射ビーム微小化が可能であるが、取り込み角大きくなるために焦点深度浅くなりすぎる欠点がある。入射電子加速電圧下げると電子進入深さ減り反射電子によって生成される二次電子空間的な広がりが減るために像のコントラストが向上する。低加速利点バックグラウンド減少のほかに帯電減少試料損傷減少がある。SEMでは帯電が像の質を落とす。入射電子量が流出電子量を上回る帯電が起き、像が乱れ異常なコントラスト形成される。非伝導試料場合には,帯電防止のために貴金属Al,Cのコ−ティングが行われる。低真空SEMではコーティングなしに非伝導試料観察できる場合もある。

関連する用語

説明に「走査電子顕微鏡」が含まれている用語


SEM

別名:えすいーえむ

電子波波長の短いことを利用した電子線電子光学的結像によって、光学顕微鏡では不可能な試料の高倍率、高分解能の像をうる電子顕微鏡一種である。試料上を電子線探針走査し、試料からの透過あるいは反射電子強弱探針同期して走査している観察ブラウン管の像面上で見る。分解能探針大きさ決まり、10nm程度までできる。

走査型電子顕微鏡

読み方そうさせんでんしけんびきょう
【英】:SEM,scanning electron microscope

電子波波長の短いことを利用した電子線電子光学的結像によって、光学顕微鏡では不可能な試料の高倍率、高分解能の像をうる電子顕微鏡一種である。試料上を電子線探針走査し、試料からの透過あるいは反射電子強弱探針同期して走査している観察ブラウン管の像面上で見る。分解能探針大きさ決まり、10nm程度までできる。

Sem

名前 セムゼム

SEM

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2015/08/21 05:10 UTC 版)

SEM





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