温度依存性とは? わかりやすく解説

温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2020/08/26 06:19 UTC 版)

M2052制振合金」の記事における「温度依存性」の解説

標準組成M2052制振合金制振性能80℃限界高温域において特性劣化するまた、Mn,Cu,Ni,Fe組成増減することで限界温度高温シフトする研究進んでいる。

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温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2018/05/30 21:02 UTC 版)

自己解離」の記事における「温度依存性」の解説

水の自己解離は吸熱的であるため自己解離定数温度の上昇と伴に増大するギブス自由エネルギー温度変化エンタルピー変化の間には以下の関係があり、 ( ∂ ( Δ G / T ) ∂ T ) P = − Δ H T 2 {\displaystyle \left({\partial (\Delta G/T) \over {\partial T}}\right)_{P}=-{\Delta H \over {T^{2}}}} ( ∂ lnK a p ∂ T ) P = Δ H ∘ R T 2 {\displaystyle \left({\partial \ln K_{\mathrm {ap} } \over {\partial T}}\right)_{P}={\Delta H^{\circ } \over {RT^{2}}}}

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温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/11/26 01:41 UTC 版)

ファントホッフの式」の記事における「温度依存性」の解説

ファントホッフ・プロットは、エンタルピーエントロピー温度変化伴って一定であるという暗黙前提基づいた線形プロットである。しかし、ある場合には、エンタルピーエントロピー温度によって劇的に変化する一次近似では、2つ異な反応生成物異な熱容量を持つと仮定します。この仮定組み込むと、温度関数としての平衡定数の式中に追加項c/T2が得られる多項式当て嵌めは、反応標準エンタルピー一定でないことを示すデータ分析するために使用することができる。 lnK e q = a + b T + c T 2 , {\displaystyle \ln K_{\mathrm {eq} }=a+{\frac {b}{T}}+{\frac {c}{T^{2}}},} 上式において Δ H = − R ( b + 2 c T ) , Δ S = R ( a − c T 2 ) {\displaystyle {\begin{aligned}\Delta H&=-R\left(b+{\frac {2c}{T}}\right),\\\Delta S&=R\left(a-{\frac {c}{T^{2}}}\right)\end{aligned}}} である。 このように反応エンタルピーエントロピーは、温度依存性がある場合でも、特定の温度決定することができる。

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温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2020/06/27 09:00 UTC 版)

速度定数」の記事における「温度依存性」の解説

反応速度係数(k1, k2 など)は温度依存し一般的に次に示すアレニウスの式によって与えられるk = A exp ⁡ ( − E a R T ) {\displaystyle k=A\exp \left(-{\frac {E_{a}}{RT}}\right)} ここで Ea活性化エネルギー、R は気体定数である。温度 T において分子ボルツマン分布に基づくエネルギーを持つことから、Ea超えるエネルギー供給される衝突回数exp (-Ea /RT ) に比例することがわかる。A は頻度因子または前指数項と呼ばれる。 A や Ea の値は反応によって異なる(よって、例えば k1 と k2 は異なる値をとる)。アレニウスの式経験式であるため、より複雑な、この形に従わない、他の速度定数の温度依存性を記述する式も存在する。たとえば、分子衝突説、遷移状態説などの理論によれば指数 0 ≤ m ≤ 1 を用いて次のように表される。 k ∝ T m exp ⁡ ( − E a R T ) {\displaystyle k\propto T^{m}\exp \left(-{\frac {E_{a}}{RT}}\right)} ただし一般に m << E /RT であるため、アレニウスの式成り立つとみなしていとされる

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温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/05/09 07:58 UTC 版)

閾値電圧」の記事における「温度依存性」の解説

酸化膜厚閾値電圧影響するのと同様に温度CMOSデバイス閾値電圧影響する基板効果の式の一部展開すると、 ϕ F = ( k T q ) ln ⁡ ( N A N i ) {\displaystyle \phi _{F}=\left({\frac {kT}{q}}\right)\ln {\left({\frac {N_{A}}{N_{i}}}\right)}} ここで ϕ F {\displaystyle \phi _{F}} は接触電位半分、 k {\displaystyle k} はボルツマン定数、 T {\displaystyle T} は温度、 q {\displaystyle q} は電気素量N A {\displaystyle N_{A}} はドーピングパラメータ、 N i {\displaystyle N_{i}} は基板真性キャリア濃度である。 表面ポテンシャル温度直接的な関係であることがわかる。上を見ると、閾値電圧直接的な関係はもたないが、しかし効果無関係ではない。この変化はドーピングレベルに依存して一般的に−4 mV/Kと−2 mV/Kの間である。30 °C変化では、これは90 nmテクノロジーノードで一般的に用いられる500 mV設計パラメータから大きく変わる。

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温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/05/08 09:07 UTC 版)

粘度」の記事における「温度依存性」の解説

一般に液体粘度温度上昇する低下し気体粘度温度上昇する上昇する潤滑油では、粘度指数 (VI) で、高温低温粘度規定している。固体から液体への転移粘度急激な低下という見方もでき、粘度軟化温度などを定義することもある(例:ガラス)[要ページ番号]。 なお、圧力依存性については、気体では小さいとされている。 粘度温度の関係を表す式がいくつか提案されている。以下、T は絶対温度を表す[要ページ番号]。

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温度依存性

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/11/19 01:06 UTC 版)

強誘電体」の記事における「温度依存性」の解説

キュリー温度上の温度領域では、誘電率キュリー・ワイスの法則に従って下記のように変化する。 ϵ = C TT c {\displaystyle \epsilon ={\frac {C}{T-T_{\mathrm {c} }}}} なお、秩序‐無秩序型では温度上昇してキュリー温度近づくにつれ自発分極連続的に減少して0となる。これは「二次相転移」と呼ばれるまた、変位型ではキュリー温度不連続分極量が変化するため、「一次相転移」と呼ばれる詳しく相転移該当する記事参照のこと。 変位型キュリー温度付近での誘電率変化は右の図のように急峻だが、多結晶などで局所的な転移温度に差があるとなだらかな変化を示す。また、リラクサーと呼ばれる特殊な強誘電体では、誘電率ピーク温度外部電場周波数左右されるという興味深い現象見られる

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