機械・電気・IT

ウィキペディア小見出し辞書

機械・電気・IT

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/06/18 06:31 UTC 版)

「ストレステスト」の記事における「機械・電気・IT」の解説

元々電気製品・部品で耐久性を調べるために、定格以上の電圧、電流、外部温度、震動を上げてテストしている（特にコンデンサーは高温に弱い）。半導体ではオーバークロック動作も使われる。自動車、鉄道などでは速力や負荷（重量）を上げるのが一般的である。日本製品の優秀性はその中で育てられた。逆にアメリカでは国土の広さと多様性を受け、自国で販売することでテストに合格したことにした。アメリカ国防省MIL規格では、全世界どこでも派遣できるようなストレステストを要求している（逆にベトナム戦争の時に、ベトナムに9割以上送られる銃にアラスカでの動作を要求したために、耐久性が落ちた）。カラシニコフ突撃銃では、足で踏んでゆがんだ銃弾を発射できる（他の鉄砲類では不可能）。 IT（ソフトウェア）では、通常より多い負荷量（ロード）（データ量が多い、接続先が多い、データ種類が多いなど）をかけて、システムが安定動作するかどうか調べる。一般的にバグ（プログラムミス、設計ミス）を除去（バグフィックス）し安定動作にするためには、プログラミングにかける時間、マンパワーなど他のコストの20%-200%かかる。定格通りの動作をすることが負荷テストになることもある。例えば消費者用プリンターの仕様に「1000ページまで印刷できる」と書いてあった時、実際にはそういう動作をする消費者はほとんどいないのに、1000ページ印刷してみることもある。プログラマーが少しミスをするだけで100ページでストップすることもあるからである。このテストから漏れる事が多いのは「バッファオーバーフロー」による脆弱性である。これは一定量以上のデータがあった場合、データ記憶領域からデータがはみ出して他の記憶領域にデータを記憶させることが出来ることである。量が多い、形式が不正などのデータチェックをプログラムで100%やっていない（実務上不可能に近い）ことから起こる。