びぶんかんしょう‐けんびきょう〔ビブンカンセフケンビキヤウ〕【微分干渉顕微鏡】
微分干渉位相差顕微鏡
微分干渉顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2019/05/15 13:38 UTC 版)
微分干渉顕微鏡(びぶんかんしょうけんびきょう、Differential interference contrast microscope; DIC)は光学顕微鏡の一種で、非染色の試料のコントラストを高めて観察する事ができる装置である。光学系の中核を為すプリズム(Nomarski prism)の開発者であるノマルスキー(Georges Nomarski)の名から、ノマルスキー型微分干渉顕微鏡などとも呼ばれる。
- 1 微分干渉顕微鏡とは
- 2 微分干渉顕微鏡の概要
- 3 利点と欠点
- 4 参考文献
微分干渉顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/02/15 16:58 UTC 版)
詳細は「微分干渉顕微鏡」を参照 光の偏光性と干渉性を利用して、無色透明な細胞や金属表面の段差などを観察する顕微鏡。偏光素子とウォラストンプリズム(ノマルスキープリズム)によって光線を分離して試料面を通過させ、試料で生じる光路差の微分値を像面でコントラストに変える。試料面での光線の分離量をシアー量といい、分解能やコントラストに影響する。現在の顕微鏡では、スミス・ノマルスキー型という構成が多い。
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微分干渉顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2017/11/25 01:07 UTC 版)
偏光と干渉を利用し、無染色の試料を高コントラストで観察することができる顕微鏡である。
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