X線回折
X線回折
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2023/06/13 04:35 UTC 版)
X線回折（エックスせんかいせつ、英: X‐ray diffraction、XRD）は、X線が結晶格子で回折を示す現象である。
- ^ 井田隆「粉末回折法の使い方（５）ー 物質の同定と定性分析，データベースの利用 ー」『Journal of Flux Growth』第5巻第2号、日本フラックス成長研究会、2010年、pp. 50-51。
- ^ 表和彦「入門講座 界面のはかりかた 微小角入射X線回折で界面の構造をみる」（PDF）『ぶんせき』2006年第1号、日本分析化学会、2006年1月、2-8頁、ISSN 03862178、NAID 10017165528、CRID 1520853832292206720。
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X線回折
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電子顕微鏡と同じく回折コントラストとして観測される。厚い試料で用いられ、欠陥密度の小さい場合に有効である。
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