温度による電気抵抗の変化とは? わかりやすく解説

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温度による電気抵抗の変化

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/02/16 02:51 UTC 版)

電気抵抗」の記事における「温度による電気抵抗の変化」の解説

常温付近では、主な金属の電気抵抗温度上昇比例して増大し主な半導体電気抵抗逆に低下していく。電気抵抗温度による変化量は、その材質電気抵抗率温度係数α を使って次の式で計算できる。 R ( T ) = R 0 [ 1 + α ( T − T 0 ) ] {\displaystyle R(T)=R_{0}[1+\alpha (T-T_{0})]\,\!} ここで T は温度T0基準温度一般に常温)、R0T0 における電気抵抗、α は単位温度当たりの電気抵抗変化率である。α は対象とする物質によって決まる定数である。ただしこの式は近似的なものであって電気抵抗変化物理的に非線形であり、α が温度によって変化する。そのため α にはそれを測定したときの温度添えるのが一般的で α15 などと表し、その温度周辺でしか使えないことを示す。 低温デバイ温度未満)では、温度低下伴ってフォノンによる電子散乱少なくなるため、T5 に比例して金属の電気抵抗低下していく。さらに低温になると、電気抵抗の主要因電子同士衝突となり、T2 に比例して温度低下と共に電気抵抗低下していく。ある温度まで下がると金内の不純物電子散乱の主要因となり、電気抵抗はある値より低下しなくなる。マーティセンの法則1860年代Augustus Matthiessen が定式化下記の式はそれを現代風にしたものによれば、それらの異な振る舞い総和によって温度電気抵抗の関係が表されるとしている。 R = R imp + a T 2 + b T 5 + c T {\displaystyle R=R_{\text{imp}}+aT^{2}+bT^{5}+cT\,} ここで Rimp は不純物によって決まる最低の電気抵抗で、温度によって変化しない係数 a、b、c は金属の特性によって決まる。この法則確かめ実験行ったヘイケ・カメルリング・オネス1911年超伝導発見することになった真性半導体高温になると良導体となる。熱エネルギーによって電子励起して伝導帯移り価電子帯正孔を残す。そうした電子自由に動けるようになり、正孔自由に動くことができる。典型的な真性半導体電気抵抗温度上昇伴って指数関数的に低下するR = R 0 e − a T {\displaystyle R=R_{0}e^{-aT}\,} 不純物半導体電気抵抗温度の関係は遥かに複雑である。絶対零度から温度上げていくと、ドナー原子あるいはアクセプター原子から電荷担体離れていくため電気抵抗急激に低下していく。ほとんどのドナー原子アクセプター原子電荷担体を失うと、金属とほぼ同様の態となるため、温度上昇伴って若干電気抵抗上昇しはじめる。さらに温度上昇するドナー/アクセプターによる電荷担体はあまり支配的ではなくなり、真性半導体同様に熱エネルギー励起され電子とそれによって生じた正孔電流を担うため、電気抵抗急激に低下する電解液不導体電気抵抗非線形変化し材質によってそれぞれ異な変化を示す。そのため一般的な式を示すことはできない

※この「温度による電気抵抗の変化」の解説は、「電気抵抗」の解説の一部です。
「温度による電気抵抗の変化」を含む「電気抵抗」の記事については、「電気抵抗」の概要を参照ください。

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