三省堂 大辞林

セム 1 [SEM]

〔scanning electron microscope〕⇒走査型電子顕微鏡(そうさがたでんしけんびきよう)

---

セム [Sem]

旧約聖書中の人物。ノアの息子。ハムの兄弟。アッシリア・アラビア・イスラエル・アラムなどの民族の祖とされている。

---

SEM ［scanning electron microscope］

⇒走査型電子顕微鏡

IT用語辞典バイナリ

SEM

フルスペル：Search Engine Marketing
読み方：サーチエンジンマーケティング
別名：検索エンジンマーケティング

SEMとは、検索エンジンから自社サイトへ誘導して商品やサービスの購買につなげるマーケティング手法のことである。

検索エンジンにおける検索結果の上位にサイトが表示されるように最適化するSEOと、GoogleアドワーズやOvertureスポンサードサーチなどのPPC広告を組み合わせる比較的単純な作業を指す場合もあれば、サイトへ誘導したときに最初に辿り着かせるページやサイト内のユーザー導線まで考慮してサイトの構成を決めるような本格的な作業を指す場合もある。

マーケティングの分野では、「検索エンジンで検索した結果からサイトへ辿り着く人は関心が高い」という経験則が知られており、SEOは、顧客心理を分析して購買へつなげるには最適な手法である。そのため、インターネット上の広告宣伝方法としてROI（費用対効果）が最も高いと考えられている。

なお、SEMは、短期的には効果が出にくく、アクセスログを解析しながら適時分析・調整を行い、長期的、かつ、継続的に進めていく必要がある。

Webマーケティングのほかの用語一覧

SEO：	リンクジュース  リンクファーム  リンクベイト  SEM  SEO  SMO  SEOポイズニング

>>SEOカテゴリの他の用語

走査電子顕微鏡基本用語集

走査電子顕微鏡　SEM: scanning electron microscope

細い電子プローブで試料表面を走査したとき、電子プローブの照射点から放出される種々の電子、電磁波を検出して画像化する装置。電子プローブを作り走査する電子光学系、信号を検出する検出器、試料を保持する試料ステージ、画像を表示・記録するためのモニター・記録系、種々の操作をするための操作系、鏡筒や試料室を真空にするための真空排気系などから構成される。

関連する用語

• 電子プローブ
• 走査
• 電子光学系
• 試料ステージ
• モニター
• 操作系
• 真空排気系

---

走査電子顕微鏡学　SEM: scanning electron microscopy

走査電子顕微鏡の電子光学系、検出器、形像コントラストなどを理論的に扱ったり、走査電子顕微鏡の使い方、試料作製法などを扱う学問。

関連する用語

• 電子光学系
• コントラスト

---

走査電子顕微鏡法　SEM: scanning electron microscopy

走査電子顕微鏡を使った観察法。

透過電子顕微鏡基本用語集

走査電子顕微鏡（セム）

略語：SEM
【英】：scanning electron microscope

バルク試料の表面を微小電子プローブで走査し、表面から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け、その強度をプローブ走査に同期させて、コンピュータモニタ上に輝点列の像として表示する電子顕微鏡。二次電子からバルク試料表面の微細な構造や形態が、反射電子から組成の違いを観察できる。EDSやWDSをはじめとする様々な分析機能を付加して使われている。SEMの分解能を決める重要な要素は入射ビームの試料上でのプローブサイズである。プローブサイズを小さくするには第一に電子源の大きさを小さくすることである。搭載されている電子銃が冷陰極型電解放出型電子銃，ショットキー型電子銃，LaB6電子銃，タングステン電子銃の順でプローブサイズは大きくなる。第二に対物レンズのタイプによって絞れるビームサイズが決まる。対物レンズには1)アウトレンズ、2)シュノーケルレンズ、3)インレンズがある。アウトレンズ型では大きな試料を傾斜しても像が得られるように、試料を対物レンズの下方に置く。試料に対する制限がゆるい代わりにレンズの焦点距離が長くなり小さいビームは得られにくい。インレンズ型ではTEMのように対物レンズ中に試料を挿入する。焦点距離を短くでき小さなプローブが得られる。ただし、試料の大きさは数mmに制限される。シュノーケル型（潜水用具に形が似ていることによる命名）は前二者の中間的存在で、試料はレンズの下に置かれ，比較的小さいプローブと比較的大きい試料を扱えるように設計されている。低い加速電圧では色収差の効果により分解能は下がる。分解能は加速電圧20〜30kVで定義されている。分解能の具体的数値は，超高分解能型で約1nm、汎用型で10nm程度。Csコレクタ、Ccコレクタを使用すると入射ビームの微小化が可能であるが、取り込み角が大きくなるために焦点深度が浅くなりすぎる欠点がある。入射電子の加速電圧を下げると電子の進入深さが減り，反射電子によって生成される二次電子の空間的な広がりが減るために像のコントラストが向上する。低加速の利点はバックグラウンドの減少のほかに帯電の減少、試料損傷の減少がある。SEMでは帯電が像の質を落とす。入射電子量が流出電子量を上回ると帯電が起き、像が乱れ異常なコントラストが形成される。非伝導性試料の場合には，帯電防止のために貴金属やAl，Cのコ−ティングが行われる。低真空SEMではコーティングなしに非伝導性試料を観察できる場合もある。

関連する用語

• 二次電子
• 反射電子

---

走査電子顕微鏡（セム）

略語：SEM
【英】：scanning electron microscope

バルク試料の表面を微小電子プローブで走査し、表面から放出される二次電子や反射電子を検出器で受け、その強度をプローブ走査に同期させて、コンピュータモニタ上に輝点列の像として表示する電子顕微鏡。二次電子からバルク試料表面の微細な構造や形態が、反射電子から組成の違いを観察できる。EDSやWDSをはじめとする様々な分析機能を付加して使われている。SEMの分解能を決める重要な要素は入射ビームの試料上でのプローブサイズである。プローブサイズを小さくするには第一に電子源の大きさを小さくすることである。搭載されている電子銃が冷陰極型電解放出型電子銃，ショットキー型電子銃，LaB6電子銃，タングステン電子銃の順でプローブサイズは大きくなる。第二に対物レンズのタイプによって絞れるビームサイズが決まる。対物レンズには1)アウトレンズ、2)シュノーケルレンズ、3)インレンズがある。アウトレンズ型では大きな試料を傾斜しても像が得られるように、試料を対物レンズの下方に置く。試料に対する制限がゆるい代わりにレンズの焦点距離が長くなり小さいビームは得られにくい。インレンズ型ではTEMのように対物レンズ中に試料を挿入する。焦点距離を短くでき小さなプローブが得られる。ただし、試料の大きさは数mmに制限される。シュノーケル型（潜水用具に形が似ていることによる命名）は前二者の中間的存在で、試料はレンズの下に置かれ，比較的小さいプローブと比較的大きい試料を扱えるように設計されている。低い加速電圧では色収差の効果により分解能は下がる。分解能は加速電圧20〜30kVで定義されている。分解能の具体的数値は，超高分解能型で約1nm、汎用型で10nm程度。Csコレクタ、Ccコレクタを使用すると入射ビームの微小化が可能であるが、取り込み角が大きくなるために焦点深度が浅くなりすぎる欠点がある。入射電子の加速電圧を下げると電子の進入深さが減り，反射電子によって生成される二次電子の空間的な広がりが減るために像のコントラストが向上する。低加速の利点はバックグラウンドの減少のほかに帯電の減少、試料損傷の減少がある。SEMでは帯電が像の質を落とす。入射電子量が流出電子量を上回ると帯電が起き、像が乱れ異常なコントラストが形成される。非伝導性試料の場合には，帯電防止のために貴金属やAl，Cのコ−ティングが行われる。低真空SEMではコーティングなしに非伝導性試料を観察できる場合もある。

関連する用語

• 二次電子
• 反射電子

説明に「走査電子顕微鏡」が含まれている用語

• ウィンドウレス（窓材無し）型EDS検出器
• 電子プローブマイクロアナライザ

スラグ用語集

SEM

別名：えすいーえむ

電子波の波長の短いことを利用した電子線の電子光学的結像によって、光学顕微鏡では不可能な試料の高倍率、高分解能の像をうる電子顕微鏡の一種である。試料上を電子線探針で走査し、試料からの透過あるいは反射電子の強弱を探針と同期して走査している観察上ブラウン管の像面上で見る。分解能は探針の大きさで決まり、10nm程度までできる。

---

走査型電子顕微鏡

読み方：そうさせんでんしけんびきょう
【英】：SEM,scanning electron microscope

電子波の波長の短いことを利用した電子線の電子光学的結像によって、光学顕微鏡では不可能な試料の高倍率、高分解能の像をうる電子顕微鏡の一種である。試料上を電子線探針で走査し、試料からの透過あるいは反射電子の強弱を探針と同期して走査している観察上ブラウン管の像面上で見る。分解能は探針の大きさで決まり、10nm程度までできる。

研磨用語集

SEM

せむ

走査型電子顕微鏡　scanning electron microscope　の略語。透過型と反射型があり、一般には後者を指す。前者は試料を透過した電子を検出して画像化するタイプで高分解能を持ち、後者は試料表面からの反射電子を検出するタイプである。

地盤大辞典

電子顕微鏡

別名 ：SEM
【英】 electron microscope

光線の代わりに高圧で加速された電子線を、光学レンズの代わりに電子レンズを用いた顕微鏡。
光学顕微鏡では見ることの出来ない微小な構造まで鮮明に観察することが出来る。
光学顕微鏡の数万倍の倍率をもつ。

（関東ローム地盤における柱状改良体の固化状況（4週養生）、エトリンガイトの生成状況がわかる。）

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ジオテック事業部 技術部 技術開発G撮影

ウィキペディア

SEM

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2011/10/04 01:13 UTC 版)

SEM

• 走査型電子顕微鏡 (scanning electron microscope)
• 平均値の標準誤差 (standard error of the mean)
• プロレスリング・セム (PRO-WRESTLING SEM) - プロレスリング・ノアの若手興行
• Sunday early morning - 桃井はるこの2008年のアルバム
• 2-（トリメチルシリル）エトキシメチル基‎ (2-(trimethylsilyl)ethoxymethyl group)。有機合成化学で用いられる保護基。
• USERSのサービスモジュール (Service Module) - 日本の人工衛星
• サーチエンジンマーケティング (search engine marketing)
• 構造方程式モデリング (structural equation modeling)
• シュペルエタンダールモデルニゼ (Super Étendard Modernisé) - フランスの攻撃機
• 二次電子増倍管 (secondary electron multiplier)

このページは曖昧さ回避のためのページです。一つの言葉や名前が二つ以上の意味や物に用いられている場合の水先案内のために、異なる用法を一覧にしてあります。お探しの用語に一番近い記事を選んで下さい。このページへリンクしているページを見つけたら、リンクを適切な項目に張り替えて下さい。