故障データ解析とは? わかりやすく解説

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故障データ解析

読み方こしょうでーたかいせき
【英】:failure data analysis

概要

システム製品故障データに基づき, 故障再発防止未然防止のために行なわれる.原因究明のための質的解析平均寿命信頼度推定検定予測のための量的な解析との両者が必要である. 前者ではストレス, 故障メカニズム, 故障モード把握, 後者では, 打切データへの対処が重要となる. 打切データ存在のためカプラン・マイヤー (Kaplan and Meier) 法・累積ハザード法などが開発され, また確率プロットおよび要因分析のための回帰モデル等が利用されている.

詳説

 システム製品など機能失われた状態を故障という. このときの情報用いその原因究明行い再発防止, さらにはより信頼性高めるために故障データ解析 (failure data analysis) が重要となる. 故障データ大きく寿命試験 (lifetime test) に基づくデータ使用状況下でのデータとに分類される. 前者はさらに目的による分類 (例:寿命推定 (lifetime estimation) に対応する信頼性決定試験, 寿命検定 (statistical testing for lifetime) に対応する信頼性適合試験), 試験法による分類 (例:常温寿命試験, 限界試験, 加速寿命試験, 非破壊試験), 開発ステップ別の分類 (例:開発段階試作段階生産段階出荷段階) 等がなされる. 後者航空機などの巨大システムから耐久消費財まで, 対象物により入手されうる情報異なるがその機能喪失による影響十分に考慮し, 信頼性設計保全性設計および安全性作り込み留意する事が大切である.

 故障データ解析にあたり, 要求される機能使用目的使われ方環境条件保全方法要求される稼働時間等の情報不可欠であり, これらに基づき, その原因究明により再発防止目的に行う故障解析 (質的解析) と信頼性特性値把握とその予測 (量的解析) の両者を行うことが重要となる.

 故障データ質的解析においては, ストレス -- 故障メカニズム -- 故障モードの3者の究明鍵を握る. ストレスに関して環境条件 (温度・湿度電界応力塩水標高等), 使用条件 (運転時負荷・運転サイクル限界負荷等), 使用目的, 流通経路把握要する. 代表的な故障メカニズム腐食・疲労拡散・マイレーション等がある. 故障モードとは故障状態をその現象から分類したものをいう (例:断線, 短絡, 折損, 摩耗, 特性劣化). これらのデータベース化とその十分な活用が重要である.

 故障データ量的解析にあたっては, 得られる情報亀裂長や発振周波数のような劣化量・特性値場合故障するまで時間 (寿命データ) の場合とに大きく分類される. 一般に劣化量がある閾値達した時点寿命データ対応する. 故障メカニズムに基づき劣化量を解析することが原因究明寿命予測上, 好ましい. 寿命データに関して今日まで種々の研究なされてきた [3] に詳しい).

 寿命データは, 使用開始から故障に至るまでの時間観測され打ち切りの無い故障データと, 使用開始からまだ故障至らず中途打ち切られデータ (打切データ) とに大別される. 打ち切りのない故障データのみからなるデータセットを完全データ, 打切データを含むデータセットを不完全データと呼ぶ. 不完全データは, さらに定時打切データ (type I censored data:あらかじめ信頼性試験または観測終了する時点定め試験観測実施することによりえられるデータで, それまで故障数および動作時間確率変数となる)・定数打切データ (type II censored data:総試験片数のうちあらかじめ定められ試験片数が故障する時点信頼性試験終了することによりえられるデータで, それまでの各試験片動作時間確率変数となる)・多重打切データ (定時打切データにおいて, 異な打切時点複数定められている場合生じデータ, 例え試験開始時点異なるが同時に試験終了する場合など)・ランダム打切データ(打切時点確率変数として扱う場合. 複数故障モード存在し, それらのうち初めに生じたものにより故障生ず場合, 競合リスクモデル, そのデータ競合リスクデータと呼ぶ) とに分類される. また, 半導体などの恒温槽での試験では評価時点までに故障したか否かのみの情報得られ, その時点までに故障生じた場合左側打切データ (left censored data), その時点までは正常である場合右側打切データ (right censored data) という. これらの種々の打切データ存在寿命データ解析難しくし, 今日まで多く研究なされてきた.

 寿命分布推定検定においては寿命分布型を仮定しないノンパラメトリック方法, 分布型を仮定するパラメトリック方法大きく分類される. また, どのような因子寿命影響与えているかを検討する要因解析目的とする種々の回帰モデル (比例ハザードモデル・ワイブル回帰モデル等) も提案されている [1]. 信頼性分野では医学統計異なり, 一般に指数分布ワイブル分布対数正規分布極値分布などのパラメトリック扱いが可能である. これにより推定検定必要なサンプル数の低減打ち切りされた後の寿命予測(外挿)が可能となる. ただし, 対象データ層別すべきか否か, 分布型のあてはめ等の事前解析においてはノンパラメトリック方法および確率プロット法が有用である. 確率プロット法はデータ視覚化の点で有用である. データ打点に際しては, メジアンランク法・平均ランク法などが提案されている [4]. 寿命予測外挿に関しては, これまでの故障メカニズム打切時点以降も続くか否か検討鍵を握る. この検討なしの予測外挿には危険を伴う. ノンパラメトリック方法としては Kaplan & Meier による product limit 推定法, Efron による Self-consistent 法, これらをさらに一般化した Turnbull方法, および Nelson/阿部累積ハザード法が有用である [4]. パラメトリック方法としては先の分布型に基づく最尤法モーメント法線形推定法種々の方法提案されている [2]. 正規分布論と異なる点は平均分散などの母数の推定検定よりは信頼度パーセント点が重要となる. 検定尤度比検定主流であるが, 寿命分布型に応じ種々の方法提案されている. これらは一般に計算機による数値計算が必要となり, SAS, S-Plus, BMDP など解析ソフト有用である(例:

http://www.wiley.com/products/subjects/mathematics [3],

http://member.nifty.ne.jp/care/caredown.htm) .

 車などの耐久消費財場合, 市場からの寿命データ故障データのみが入手され故障である打ちきりデータ観測されない [5]. また, 故障モード未知場合など不完全データ解析困難な場合が多いが, これらは warranty data としてメーカdatabase蓄えられている. この結果系の database開発・製造における種々の要因系の情報にもとづく解析有用である.



参考文献

[1] D. R. Cox and D. Oakes, Analysis of Survival Data, Chapman and Hall, 1984.

[2] J. F. Lawless, Statistical Models and Methods for Lifetime Data, Wiley, 1982.

[3] Q. M. Meeker and L. A. Escober, Statistical Methods for Reliability Data, Wiley, 1998.

[4] 市田 嵩, 鈴木和幸, 『信頼性分布統計』, 日科技連, 1984.

[5] 真壁 肇, 宮村夫, 鈴木和幸, 『信頼性モデル統計解析』, 共立出版, 1989.

「OR事典」の他の用語
信頼性・保全性:  寿命推定  寿命検定  寿命試験  故障データ解析  故障率  点検  状態劣化システム




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