日本産業規格（電気・電子）の一覧 (C 5000-5999)
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日本産業規格（電気・電子）の一覧（C 5000-5999）は、日本産業規格のC番号（電気・電子）の内番号がC 5000-5999に該当するものの一覧である。
| 規格番号 | 名称 | 制定・改正・廃止 | 対応国際規格 | 参考 |
|---|---|---|---|---|
| JIS C 5001 | 電子機器用部品に関する通則 | 制定 1967/08/01 改正 1987/06/01 廃止 1997/09/20 |
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| JIS C 5002 | 電子機器用部品の環境分類 | 制定 1968/03/01 廃止 1999/06/20 |
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| JIS C 5003 | 電子部品の故障率試験方法通則 | 制定 1969/07/01 改正 1974/07/01 |
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| JIS C 5010 | プリント配線板通則 | 制定 1965/04/01 改正 1967/02/01 改正 1973/10/01 改正 1988/07/01 改正 1994/01/01 |
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| JIS C 5011 | 多層印刷配線板通則 | 制定 1971/09/01 廃止 1988/07/01 |
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| JIS C 5012 | プリント配線板試験方法 | 制定 1974/06/01 改正 1987/07/01 改正 1993/05/01 |
IEC 60326-2 1990 IEC 60326-4 1980 IEC 60326-5 1980 IEC 60326-6 1980 |
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| JIS C 5013 | 片面及び両面プリント配線板 | 制定 1990/10/01 改正 1996/01/01 |
IEC 60326-3 1991 IEC 60326-4 1980 IEC 60326-5 1980 |
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| JIS C 5014 | 多層プリント配線板 | 制定 1988/11/01 改正 1994/01/01 |
IEC 60326-3 1991 IEC 60326-6 1980 |
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| JIS C 5016 | フレキシブルプリント配線板試験方法 | 制定 1988/02/01 改正 1994/01/01 |
IEC 60249-1 1982 IEC 60326-2 1990 |
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| JIS C 5017 | フレキシブルプリント配線板－片面・両面 | 制定 1988/02/01 改正 1994/01/01 |
IEC 60326-7 1981 IEC 60326-8 1981 |
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| JIS C 5020 | 電子部品の環境試験方法通則 | 廃止 1985/08/01 | ||
| JIS C 5021 | 電子部品の耐寒性試験方法 | 制定 1967/05/01 改正 1975/05/01 改正 1978/09/01 廃止 1987/07/01 |
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| JIS C 5022 | 電子部品の耐熱性試験方法 | 制定 1967/05/01 改正 1975/05/01 改正 1978/09/01 廃止 1987/07/01 |
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| JIS C 5023 | 電子部品の耐湿性（定常状態）試験方法 | 制定 1967/05/01 改正 1975/05/01 改正 1978/09/01 廃止 1987/07/01 |
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| JIS C 5024 | 電子部品の耐湿性（温湿度サイクル）試験方法 | 制定 1967/05/01 改正 1975/05/01 改正 1978/09/01 廃止 1988/04/01 |
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| JIS C 5025 | 電子部品の振動試験方法 | 廃止 1987/03/01 | ||
| JIS C 5026 | 電子部品の衝撃試験方法 | 廃止 1987/03/01 | ||
| JIS C 5027 | 電子部品の低温貯蔵試験方法 | 制定 1967/08/01 改正 1975/05/01 廃止 1987/11/01 |
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| JIS C 5028 | 電子部品の塩水噴霧試験方法 | 制定 1967/08/01 改正 1975/05/01 廃止 1989/01/01 |
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| JIS C 5029 | 電子部品の減圧試験方法 | 制定 1967/08/01 改正 1975/05/01 廃止 1989/03/01 |
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| JIS C 5030 | 電子部品の温度サイクル試験方法 | 制定 1967/08/01 改正 1975/05/01 改正 1978/09/01 廃止 1988/04/01 |
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| JIS C 5031 | 電子部品の気密性試験方法 | 制定 1968/02/01 改正 1975/05/01 廃止 1989/05/01 |
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| JIS C 5032 | 電子部品の浸せきサイクル試験方法 | 制定 1968/01/01 改正 1975/05/01 廃止 1993/12/01 |
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| JIS C 5033 | 電子部品のはんだ付け性試験方法 | 廃止 1986/03/01 | ||
| JIS C 5034 | 電子部品のはんだ耐熱性試験方法 | 廃止 1986/03/01 | ||
| JIS C 5035 | 電子部品の端子強度試験方法 | 廃止 1986/08/01 | ||
| JIS C 5036 | 電子部品の長時間電気的動作試験方法 | 制定 1968/02/01 改正 1975/05/01 廃止 1993/12/01 |
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| JIS C 5037 | 電子部品の機械的繰返し動作試験方法 | 制定 1968/02/01 改正 1975/05/01 廃止 1993/12/01 |
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| JIS C 5062 | 抵抗器及びコンデンサの表示記号 | 制定 1997/10/20 | IEC 60062 1992 IEC 60062:1992/AMENDMENT 1 1995 |
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| JIS C 5063→JIS C 60063 | 抵抗器及びコンデンサの標準数列 | 制定 1997/10/20 廃止 2018/02/20 |
IEC 60063 1963 IEC 60063:1963/AMENDMENT 1 1967 IEC 60063:1963/AMENDMENT 2 1977 |
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| JIS C 5070 | 表面実装技術－表面実装部品 (SMD) の輸送及び保管条件－指針 | 制定 2002/03/20 | IEC 61760-2 1998 | |
| JIS C 5101 | 電子機器用固定コンデンサ通則 | 制定 1964/01/01 改正 1968/12/01 改正 1977/11/01 改正 1988/07/01 改正 1995/03/01 廃止 2002/06/20 |
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| JIS C 5101-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第1部：品目別通則 | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-1 1982 | |
| JIS C 5101-10 | 電子機器用固定コンデンサ―第10部：品種別通則：固定積層磁器チップコンデンサ | 制定 1999/02/20 廃止 2007/03/20 |
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| JIS C 5101-10-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第10部：ブランク個別規格：固定積層磁器チップコンデンサ 評価水準E | 制定 1999/02/20 | ||
| JIS C 5101-11 | 電子機器用固定コンデンサ－第11部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-11 1988 | |
| JIS C 5101-11-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第11部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E | IEC 60384-11-1 1988 | ||
| JIS C 5101-13 | 電子機器用固定コンデンサ－第13部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ | 制定 1999/02/20 | IEC 60384-13 1991 | |
| JIS C 5101-13-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第13部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E | 制定 1999/02/20 | IEC 60384-13-1 1991 | |
| JIS C 5101-14 | 電子機器用固定コンデンサ－第14部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-14 1993 IEC 60384-14:1993/AMENDMENT 1 1995 |
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| JIS C 5101-14-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第14部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-14-1 1993 | |
| JIS C 5101-15 | 電子機器用固定コンデンサ－第15部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-15 1982 IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1 1987 IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 2 1992 |
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| JIS C 5101-15-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第15部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-15-1 1984 IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1 1987 |
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| JIS C 5101-15-2 | 電子機器用固定コンデンサ－第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-15-2 1984 IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1 1987 |
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| JIS C 5101-15-3 | 電子機器用固定コンデンサ－第15部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-15-3 1984 IEC 60384-15-3:1984/AMENDMENT 1 1992 IEC 60384-15:1982/AMENDMENT 1 1987 |
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| JIS C 5101-16 | 電子機器用固定コンデンサ－第16部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ | 制定 1999/02/20 | IEC 60384-16 1982 IEC 60384-16:1982/AMENDMENT 1 1987 IEC 60384-16:1982/AMENDMENT 2 1992 |
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| JIS C 5101-16-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第16部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 評価水準E | 制定 1999/02/20 | IEC 60384-16-1 1982 IEC 60384-16-1:1982/AMENDMENT 1 1987 |
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| JIS C 5101-17 | 電子機器用固定コンデンサ－第17部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ | 制定 2000/04/20 | IEC 60384-17 1987 | |
| JIS C 5101-17-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第17部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ 評価水準E | IEC 60384-17-1 1987 | ||
| JIS C 5101-18 | 電子機器用固定コンデンサ－第18部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO2) | IEC 60384-18 1993 IEC 60384-18:1993/AMENDMENT 1 1998 |
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| JIS C 5101-18-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO2) | IEC 60384-18-1 1993 IEC 60384-18-1:1993/AMENDMENT 1 1998 |
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| JIS C 5101-18-2 | 電子機器用固定コンデンサ－第18部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価水準E | 制定 1999/02/20 | IEC 60384-18-2 1993 IEC 60384-18-2(40/95/FDIS:1997) |
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| JIS C 5101-2 | 電子機器用固定コンデンサ－第2部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-2 1982 IEC 60384-2:1982/AMENDMENT 1 1987 IEC 60384-2:1982/AMENDMENT 2 1992 |
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| JIS C 5101-2-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第2部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E | IEC 60384-2-1 1982 IEC 60384-2-1:1982/AMENDMENT 1 1987 |
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| JIS C 5101-20 | 電子機器用固定コンデンサ－第20部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直流コンデンサ | 制定 2000/04/20 | IEC 60384-20 1996 | |
| JIS C 5101-20-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第20部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直流コンデンサ 評価水準EZ | IEC 60384-20-1 1996 | ||
| JIS C 5101-21 | 電子機器用固定コンデンサ―第21部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 | 制定 2006/03/25 | IEC 60384-21 2004 IEC 60384-21-1 2004 |
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| JIS C 5101-21-1 | 電子機器用固定コンデンサ―第21―1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ | 制定 2006/03/25 | IEC 60384-21-1 2004 | |
| JIS C 5101-22 | 電子機器用固定コンデンサ―第22部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 | 制定 2006/03/25 | IEC 60384-22 2004 IEC 60384-22-1 2004 |
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| JIS C 5101-22-1 | 電子機器用固定コンデンサ―第22―1部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ | 制定 2006/03/25 | IEC 60384-22-1 2004 | |
| JIS C 5101-3 | 電子機器用固定コンデンサ－第3部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-3 1989 | |
| JIS C 5101-3-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第3部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-3-1 1989 | |
| JIS C 5101-4 | 電子機器用固定コンデンサ－第4部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-4 1985 IEC 60384-4:1985/AMENDMENT 1 1992 IEC 60384-4:1985/AMENDMENT 2 1996 |
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| JIS C 5101-4-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第4部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-4-1 1985 IEC 60384-4-1:1985/AMENDMENT 1 1992 IEC 60384-4-1:1985/AMENDMENT 2 1996 |
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| JIS C 5101-4-2 | 電子機器用固定コンデンサ－第4部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-4-2 1985 IEC 60384-4-2:1985/AMENDMENT 1 1992 IEC 60384-4-2:1985/AMENDMENT 2 1996 |
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| JIS C 5101-8 | 電子機器用固定コンデンサ－第8部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類1 | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-8 1988 IEC 60384-8:1988/AMENDMENT 1 1993 |
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| JIS C 5101-8-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第8部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類1 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-8-1 1988 IEC 60384-8-1:1988/AMENDMENT 1 1993 |
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| JIS C 5101-9 | 電子機器用固定コンデンサ－第9部：品種別通則：固定磁器コンデンサ種類2 | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-9 1988 | |
| JIS C 5101-9-1 | 電子機器用固定コンデンサ－第9部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ種類2 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60384-9-1 1988 | |
| JIS C 5102 | 電子機器用固定コンデンサの試験方法 | 制定 1969/12/01 改正 1976/06/01 改正 1977/11/01 改正 1986/07/01 改正 1992/05/01 改正 1994/03/01 廃止 2000/08/20 |
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| JIS C 5105 | CR複合部品通則 | 制定 1966/04/01 廃止 1987/06/01 |
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| JIS C 5106 | CR複合部品の試験方法 | 制定 1968/03/01 改正 1977/06/01 廃止 1987/06/01 |
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| JIS C 5110 | 直流用プラスチックフィルムコンデンサ通則 | 廃止 1975/02/01 | ||
| JIS C 5111 | 電子機器用固定プラスチックフィルムコンデンサ通則 | 制定 1972/08/01 改正 1979/04/01 改正 1988/09/01 改正 1995/03/01 廃止 2002/06/20 |
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| JIS C 5112 | 直流用プラスチックフィルムコンデンサ試験方法 | 廃止 1969/12/01 | ||
| JIS C 5113 | 電子機器用固定ポリエステルフィルムコンデンサ | 制定 1964/03/01 改正 1971/09/01 改正 1974/11/01 改正 1982/01/01 改正 1991/05/01 廃止 1999/08/20 |
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| JIS C 5114 | 電子機器用固定ポリスチレンフィルムコンデンサ | 制定 1967/02/01 改正 1971/09/01 改正 1974/11/01 改正 1982/01/01 改正 1991/05/01 廃止 1996/08/01 |
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| JIS C 5115 | 電子機器用固定金属化ポリエステルフィルムコンデンサ | 制定 1977/11/01 改正 1991/05/01 廃止 2002/06/20 |
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| JIS C 5120 | タンタル固体電解コンデンサの通則 | 廃止 1971/07/01 | ||
| JIS C 5121 | タンタル固体電解コンデンサの試験方法 | 廃止 1971/07/01 | ||
| JIS C 5122 | タンタル固体電解コンデンサ（リード線端子反対方向形） | 廃止 1971/09/01 | ||
| JIS C 5123 | タンタル固体電解コンデンサ（リード線端子同一方向形） | 廃止 1971/09/01 | ||
| JIS C 5130 | 電子機器用固定磁器コンデンサ通則 | 制定 1968/09/01 改正 1975/03/01 改正 1979/04/01 改正 1989/01/01 改正 1995/03/01 廃止 2000/08/20 |
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| JIS C 5140 | 電子機器用固定電解コンデンサ通則 | 制定 1970/03/01 改正 1989/01/01 改正 1995/03/01 廃止 2000/08/20 |
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| JIS C 5141 | 電子機器用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ | 制定 1971/05/01 改正 1976/12/01 改正 1982/01/01 改正 1991/05/01 廃止 1999/08/20 |
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| JIS C 5142 | 電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサ | 制定 1971/09/01 改正 1982/01/01 改正 1991/05/01 廃止 2002/06/20 |
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| JIS C 5143 | 電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサ チップ形 | 制定 1991/11/01 廃止 2002/06/20 |
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| JIS C 5150 | 電子機器交流電源用コンデンサ通則 | 制定 1974/08/01 改正 1980/04/01 廃止 2000/08/20 |
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| JIS C 5151 | 交流電源用金属化プラスチックフィルムコンデンサ | 制定 1974/11/01 改正 1980/04/01 廃止 1996/08/01 |
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| JIS C 5152 | 交流電源用プラスチックフィルムコンデンサ | 制定 1974/11/01 改正 1980/04/01 廃止 1995/06/01 |
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| JIS C 5153 | 交流電源用紙コンデンサ | 制定 1975/02/01 改正 1980/04/01 廃止 1991/09/01 |
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| JIS C 5154 | 交流電源用磁器コンデンサ | 制定 1975/02/01 改正 1980/04/01 廃止 1995/06/01 |
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| JIS C 5155 | 交流電源用アルミニウムはく形電解コンデンサ | 制定 1975/04/01 改正 1980/04/01 廃止 1991/03/01 |
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| JIS C 5201 | 電子機器用固定抵抗器通則 | 制定 1968/03/01 改正 1988/07/01 改正 1994/03/01 廃止 2000/08/20 |
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| JIS C 5201-1 | 電子機器用固定抵抗器－第1部：品目別通則 | 制定 1998/02/20 | IEC 60115-1 1982 IEC 60115-1:1982/AMENDMENT 2 1987 IEC 60115-1:1982/AMENDMENT 3 1989 IEC 60115-1:1982/AMENDMENT 4 1993 |
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| JIS C 5201-2 | 電子機器用固定抵抗器－第2部：品種別通則：低電力非巻線固定抵抗器 | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-2 1982 | |
| JIS C 5201-2-1 | 電子機器用固定抵抗器－第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-2-1 1982 | |
| JIS C 5201-2-2 | 電子機器用固定抵抗器－第2部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-2-2 1982 | |
| JIS C 5201-4 | 電子機器用固定抵抗器－第4部：品種別通則：電力形固定抵抗器 | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-4 1982 IEC 60115-4:1982/AMENDMENT 1 1993 |
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| JIS C 5201-4-1 | 電子機器用固定抵抗器－第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-4-1 1983 IEC 60115-4-1:1983/AMENDMENT 1 1993 |
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| JIS C 5201-4-2 | 電子機器用固定抵抗器－第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準F | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-4-2 1983 IEC 60115-4-2:1983/AMENDMENT 1 1993 |
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| JIS C 5201-4-3 | 電子機器用固定抵抗器－第4部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器，ヒートシンク付き 評価水準H | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-4-3 1983 | |
| JIS C 5201-5 | 電子機器用固定抵抗器－第5部：品種別通則：精密級固定抵抗器 | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-5 1982 | |
| JIS C 5201-5-1 | 電子機器用固定抵抗器－第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-5-1 1983 | |
| JIS C 5201-5-2 | 電子機器用固定抵抗器－第5部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準F | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-5-2 1992 | |
| JIS C 5201-6 | 電子機器用固定抵抗器－第6部：品種別通則：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 | 制定 1999/02/20 | IEC 60115-6 1983 IEC 60115-6:1983/AMENDMENT 1 1987 |
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| JIS C 5201-6-1 | 電子機器用固定抵抗器－第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準E | IEC 60115-6-1 1983 | ||
| JIS C 5201-6-2 | 電子機器用固定抵抗器－第6部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又は異種定格電力 評価水準E | IEC 60115-6-2 1983 | ||
| JIS C 5201-8 | 電子機器用固定抵抗器－第8部：品種別通則：チップ固定抵抗器 | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-8 1989 | |
| JIS C 5201-8-1 | 電子機器用固定抵抗器－第8部：ブランク個別規格：チップ固定抵抗器 評価水準E | 制定 1998/07/20 | IEC 60115-8-1 1989 | |
| JIS C 5201-9 | 電子機器用固定抵抗器―第9部：品種別通則：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器 | 制定 2006/03/25 | IEC 60115-9 2003 IEC 60115-9-1 2004 |
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| JIS C 5201-9-1 | 電子機器用固定抵抗器―第9―1部：ブランク個別規格：個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器―評価水準EZ | 制定 2006/03/25 | IEC 60115-9-1 2004 | |
| JIS C 5202 | 電子機器用固定抵抗器の試験方法 | 制定 1969/07/01 改正 1976/03/01 改正 1985/03/01 改正 1990/11/01 廃止 2002/06/20 |
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| JIS C 5203 | 電子機器用固定ネットワーク抵抗器通則 | 制定 1994/03/01 廃止 1999/02/20 |
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| JIS C 5212 | 電子機器用円筒形炭素皮膜チップ固定抵抗器（形状27，特性D及びG，等級C） | 制定 1989/11/01 改正 1995/11/01 廃止 1999/06/20 |
||
| JIS C 5213 | 電子機器用円筒形金属皮膜チップ固定抵抗器（形状27及び27S，特性G，等級C） | 制定 1989/11/01 改正 1995/11/01 廃止 1999/06/20 |
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| JIS C 5222 | 電子機器用角形金属皮膜チップ固定抵抗器（形状72及び73，特性F，G及びH，特級C） | 制定 1989/11/01 改正 1995/11/01 |
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| JIS C 5223 | 電子機器用角形金属系混合皮膜チップ固定抵抗器（形状72及び73，特性H，K及びM，特級C） | 制定 1989/11/01 改正 1995/11/01 |
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| JIS C 5260 | 電子機器用可変抵抗器通則 | 制定 1968/09/01 改正 1990/01/01 改正 1996/04/01 |
IEC 60062 1992 IEC 60063 1963 IEC 60063:1963/AMENDMENT 1 1967 IEC 60063:1963/AMENDMENT 2 1977 |
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| JIS C 5260-1 | 電子機器用可変抵抗器－第1部：品目別通則 | 制定 1999/02/20 | IEC 60393-1 1989 | |
| JIS C 5260-2 | 電子機器用可変抵抗器－第2部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 | 制定 2000/04/20 | IEC 60393-2 1989 | |
| JIS C 5260-2-1 | 電子機器用可変抵抗器－第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E | 制定 2000/04/20 | IEC 60393-2-1 1989 | |
| JIS C 5260-2-2 | 電子機器用可変抵抗器－第2部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F | 制定 2000/04/20 | IEC 60393-2-2 1992 | |
| JIS C 5260-3 | 電子機器用可変抵抗器－第3部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器 | 制定 2000/09/20 | IEC 60393-3 1992 | |
| JIS C 5260-3-1 | 電子機器用可変抵抗器－第3部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準E | 制定 2000/09/20 | IEC 60393-3-1 1992 | |
| JIS C 5260-4 | 電子機器用可変抵抗器－第4部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器 | 制定 2000/09/20 | IEC 60393-4 1992 | |
| JIS C 5260-4-1 | 電子機器用可変抵抗器－第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準E | 制定 2000/09/20 | IEC 60393-4-1 1992 | |
| JIS C 5260-4-2 | 電子機器用可変抵抗器－第4部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準F | 制定 2000/09/20 | IEC 60393-4-2 1992 | |
| JIS C 5260-5 | 電子機器用可変抵抗器－第5部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 | 制定 2000/04/20 | IEC 60393-5 1992 | |
| JIS C 5260-5-1 | 電子機器用可変抵抗器－第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E | 制定 2000/04/20 | IEC 60393-5-1 1992 | |
| JIS C 5260-5-2 | 電子機器用可変抵抗器－第5部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F | 制定 2000/04/20 | IEC 60393-5-2 1992 | |
| JIS C 5261 | 電子機器用可変抵抗器の試験方法 | 制定 1973/11/01 改正 1987/11/01 改正 1993/03/01 廃止 2000/08/20 |
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| JIS C 5301 | 電子機器用低周波変成器通則 | 制定 1969/07/01 改正 1989/11/01 廃止 2006/01/20 |
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| JIS C 5310 | 電子機器用電源変圧器品目別通則 | 制定 1972/08/01 改正 1997/02/20 |
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| JIS C 5311 | 電子機器用電源変圧器試験方法 | 制定 1974/09/01 改正 1977/12/01 改正 1994/03/01 |
IEC 61007 1990 | |
| JIS C 5320 | 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 | 制定 1972/10/01 改正 1987/11/01 改正 1994/03/01 |
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| JIS C 5321 | 電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 | 制定 1973/08/01 改正 1976/10/01 改正 1990/11/01 改正 1997/10/20 |
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| JIS C 5381-1 | 低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法 | 制定 2004/03/20 | IEC 61643-1 1998 IEC 61643-12 2002 |
|
| JIS C 5381-12 | 低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準 | 制定 2004/03/20 | IEC 61643-12 2002 | |
| JIS C 5381-21 | 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法 | 制定 2004/03/20 | IEC 61643-21 2000 | |
| JIS C 5381-22 | 通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準 | 制定 2007/01/20 | IEC 61643-22 2004 | |
| JIS C 5381-311 | 低圧サージ防護デバイス用ガス入り放電管（GDT） | 制定 2004/03/20 | IEC 61643-311 2001 | |
| JIS C 5381-321 | 低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード（ABD）の試験方法 | 制定 2004/03/20 | IEC 61643-321 2001 | |
| JIS C 5381-331 | 低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ（MOV）の試験方法 | 制定 2006/11/20 | IEC 61643-331 2003 | |
| JIS C 5381-341 | 低圧サージ防護デバイス用サージ防護サイリスタ（TSS）の試験方法 | 制定 2005/03/20 | IEC 61643-341 2001 | |
| JIS C 5401 | 電子機器用コネクタ通則 | 制定 1968/01/01 改正 1976/12/01 改正 1991/08/01 |
IEC 60176-3 1999 IEC 61076-1 1995 IEC 61076-2 1998 IEC 61076-2-001 2001 IEC 61076-3-001 1999 IEC 61076-4 1995 IEC 61076-4-001 1996 |
|
| JIS C 5401-1 | 電子機器用コネクタ－第1部：品目別通則－能力認証 | 制定 2005/03/20 | IEC 61076-1 1995 | |
| JIS C 5401-2 | 電子機器用コネクタ－第2部：品種別通則－丸形コネクタ－品質評価付 | 制定 2005/12/20 | IEC 61076-2 1998 IEC 61076-2-001 2001 |
|
| JIS C 5401-2-001 | 電子機器用コネクタ―第2―001部：丸形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 | 制定 2005/12/20 | IEC 61076-2-001 2001 | |
| JIS C 5401-3 | 電子機器用コネクタ－第3部：品種別通則－角形コネクタ－品質評価付 | 制定 2005/12/20 | IEC 60176-3 1999 IEC 61076-3-001 1999 |
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| JIS C 5401-3-001 | 電子機器用コネクタ－第3－001部：角形コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格 | 制定 2005/12/20 | IEC 61076-3-001 1999 | |
| JIS C 5401-4 | 電子機器用コネクタ－第4部：品種別通則－プリント配線板用コネクタ－品質評価付 | 制定 2005/03/20 | IEC 61076-4 1995 IEC 61076-4-001 1996 |
|
| JIS C 5401-4-001 | 電子機器用コネクタ－第4－001部：プリント配線板用コネクタ－品質評価付－ブランク個別規格 | 制定 2005/03/20 | IEC 61076-4-001 1996 | |
| JIS C 5402 | 電子機器用コネクタ試験方法 | 制定 1972/10/01 改正 1975/11/01 改正 1988/09/01 改正 1992/11/01 |
IEC 6012-12-7 2001 IEC 60169-1 1987 |
|
| JIS C 5402-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1部：一般 | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-1 2001 | |
| JIS C 5402-1-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1－1部：一般試験－試験1a：外観 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-1-1 2002 IEC 60512-1-100 2001 |
|
| JIS C 5402-1-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1－2部：一般試験－試験1b：寸法及び質量 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-1-2 2002 | |
| JIS C 5402-1-3 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1－3部：一般検査－試験1c：電気的接触長 | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-1-3 1997 | |
| JIS C 5402-1-4 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1－4部：一般検査－試験1d：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ） | 制定 2002/03/20 | ||
| JIS C 5402-1-100 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第1－100部：一般－試験一覧 | 制定 2002/03/20 改正 2005/12/20 |
IEC 60512-1-100 2001 | |
| JIS C 5402-10-4 | 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第10―4部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験―試験10d：電気的過負荷（コネクタ） | IEC 60512-10-4 2003 | ||
| JIS C 5402-11-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－1部：耐候性試験－試験11a：一連耐候性 | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-11-1 1995 | |
| JIS C 5402-11-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－2部：耐候性試験－試験11b：低温・減圧・湿度複合シーケンス | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-2 2002 | |
| JIS C 5402-11-3 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－3部：耐候性試験－試験11c：高温高湿（定常） | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-3 2002 | |
| JIS C 5402-11-4 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－4部：耐候性試験－試験11d：温度急変 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-4 2002 | |
| JIS C 5402-11-5 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－5部：耐候性試験－試験11e：かびの成長 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-5 2002 | |
| JIS C 5402-11-6 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－6部：耐候性試験－試験11f：腐食，塩水噴霧 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-6 2002 | |
| JIS C 5402-11-7 | 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11―7部：耐候性試験―試験11g：混合ガス流腐食 | 制定 2002/03/20 改正 2006/03/25 |
IEC 60512-11-7 1996 | |
| JIS C 5402-11-8 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－8部：耐候性試験－試験11h：砂じん | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-11-8 1995 | |
| JIS C 5402-11-9 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－9部：耐候性試験－試験11i：高温 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-9 2002 | |
| JIS C 5402-11-10 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－10部：耐候性試験－試験11j：低温 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-10 2002 | |
| JIS C 5402-11-11 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－11部：耐候性試験－試験11k：減圧 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-11 2002 | |
| JIS C 5402-11-12 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－12部：耐候性試験－試験11m：温湿度サイクル | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-12 2002 | |
| JIS C 5402-11-13 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第11－13部：耐候性試験－試験11n：ガスタイト・無はんだラッピング接続 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-11-13 2002 | |
| JIS C 5402-11-14 | 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11―14部：耐候性試験―試験11p：単一ガス流腐食 | 制定 2002/03/20 改正 2006/03/25 |
IEC 60512-11-14 2003 | |
| JIS C 5402-12-6 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第12－6部：はんだ付け試験－試験12f : | IEC 60512-12-6 1996 | ||
| JIS C 5402-12-7 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第12－7部：はんだ付け試験－試験12g：はんだ付け性，平衡法 | 制定 2005/03/20 | IEC 6012-12-7 2001 | |
| JIS C 5402-13-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第13－1部：機械的動作試験－試験13a：結合力及び離脱力 | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-13-1 1996 | |
| JIS C 5402-14-7 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第14－7部：封止（気密性）試験－試験14g：噴射水 | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-14-7 1997 | |
| JIS C 5402-15-8 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第15－8部：コネクタ試験（機械的試験）－試験15h：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性 | IEC 60512-15-8 1995 | ||
| JIS C 5402-16-20 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第16－20部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験－試験16t：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション） | IEC 60512-16-20 1996 | ||
| JIS C 5402-19-3 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第19－3部：耐化学薬品試験－試験19c:耐液性 | 制定 2002/03/20 | IEC 60512-19-3 1997 | |
| JIS C 5402-2-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第2－1部：導通及び接触抵抗試験－試験2a：接触抵抗－ミリボルトレベル法 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-2-1 2002 | |
| JIS C 5402-2-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第2－2部：導通及び接触抵抗試験－試験2b：接触抵抗－規定電流法 | 制定 2005/12/20 | IEC 60512-2-2 2003 | |
| JIS C 5402-2-3 | 電子機器用コネクタ―試験及び測定－第2－3部：導通及び接触抵抗試験－試験2c：接触抵抗の変動 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-2-3 2002 | |
| JIS C 5402-2-5 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第2－5部：導通及び接触抵抗試験－試験2e：コンタクトディスターバンス | 制定 2005/12/20 | IEC 60512-2-5 2003 | |
| JIS C 5402-2-6 | 電子機器用コネクタ―試験及び測定－第2－6部：導通及び接触抵抗試験－試験2f：ハウジング（シェル）の導通性 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-2-6 2002 | |
| JIS C 5402-3-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第3－1部：絶縁試験－試験3a：絶縁抵抗 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-3-1 2002 | |
| JIS C 5402-4-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第4－1部：電圧ストレス試験－試験4a：耐電圧 | 制定 2005/12/20 | IEC 60512-4-1 2003 | |
| JIS C 5402-4-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第4－2部：電圧ストレス試験－試験4b：部分放電 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-4-2 2002 | |
| JIS C 5402-4-3 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第4－3部：電圧ストレス試験－試験4c：耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル） | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-4-3 2002 | |
| JIS C 5402-5-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第5－1部：電流容量試験－試験5a：温度上昇 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-5-1 2002 | |
| JIS C 5402-5-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第5－2部：電流容量試験－試験5b：電流・温度の軽減 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-5-2 2002 | |
| JIS C 5402-6-1 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第6－1部：動的ストレス試験－試験6a：加速度（定常） | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-6-1 2002 | |
| JIS C 5402-6-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第6－2部：動的ストレス試験－試験6b：バンプ | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-6-2 2002 | |
| JIS C 5402-6-3 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第6－3部：動的ストレス試験－試験6c：衝撃 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-6-3 2002 | |
| JIS C 5402-6-4 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第6－4部：動的ストレス試験－試験6d：正弦波振動 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-6-4 2002 | |
| JIS C 5402-20-2 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第20－2部：耐火性試験－試験20b：耐火性 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-20-2 2000 | |
| JIS C 5402-23-3 | 電子機器用コネクタ－試験及び測定－第23－3部：スクリーニング及びフィルタリング試験－試験23c：コネクタ及びアクセサリのシールド効果 | 制定 2005/03/20 | IEC 60512-23-3 2000 | |
| JIS C 5402-23-4 | 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第23―4部：スクリーニング及びフィルタリング試験―試験23d：時間領域での伝送線路の反射 | 制定 2006/03/25 | IEC 60512-23-4 2001 | |
| JIS C 5410 | 高周波同軸コネクタ通則 | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1991/08/01 |
IEC 60169-1 1987 | |
| JIS C 5411 | 高周波同軸C01形コネクタ | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1995/11/01 |
||
| JIS C 5412 | 高周波同軸C02形コネクタ | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1995/11/01 |
||
| JIS C 5413 | 高周波同軸C03形コネクタ | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1995/11/01 |
||
| JIS C 5414 | 高周波同軸C04形コネクタ | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1995/11/01 |
||
| JIS C 5415 | 高周波同軸C05形コネクタ | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1995/11/01 |
||
| JIS C 5419 | 高周波同軸C11形コネクタ | 制定 1970/10/01 改正 1976/10/01 改正 1995/11/01 |
||
| JIS C 5420 | プリント配線板用コネクタ通則 | 制定 1971/10/01 改正 1991/08/01 |
IEC 60603-1 1981 IEC 60603-1A 1982 |
|
| JIS C 5432 | 電子機器用丸形R01コネクタ | 制定 1970/03/01 改正 1976/12/01 改正 1994/03/01 |
||
| JIS C 5433 | 電子機器用角形コネクタ | 制定 1973/04/01 改正 1976/12/01 廃止 1991/09/01 |
||
| JIS C 5440 | 信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 | 制定 1980/12/01 廃止 1996/08/01 |
||
| JIS C 5441 | 電子機器用スイッチの試験方法 | 制定 1973/12/01 改正 1985/11/01 改正 1992/05/01 改正 1994/03/01 改正 2006/02/20 |
IEC 60512-1 1984 IEC 60512-2 1985 IEC 60512-3 1976 IEC 60512-4 1976 IEC 60512-5 1977 IEC 60512-6 1984 IEC 60512-7 1988 IEC 60512-8 1984 IEC 60512-9 1977 IEC 60529 1989 IEC 60707 1981 IEC 61020-1 1991 |
|
| JIS C 5442 | 制御用小形電磁リレーの試験方法 | 制定 1978/09/01 改正 1986/12/01 改正 1996/04/01 |
IEC 60255-7 1991 | |
| JIS C 5443 | 電子機器用スイッチ品目別通則 | 制定 1997/07/20 | IEC 61020-1 1991 | |
| JIS C 5444 | 電子機器用表面実装スイッチの試験方法 | 制定 2000/09/20 | ||
| JIS C 5501 | コーンスピーカ | 制定 1950/05/24 改正 1958/12/18 改正 1975/03/01 改正 1978/11/01 廃止 1994/06/01 |
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| JIS C 5502 | マイクロホン | 制定 1952/06/21 改正 1957/10/30 改正 1973/06/01 改正 1977/02/01 改正 1981/01/15 改正 1991/02/01 |
||
| JIS C 5503 | ピックアップ | 制定 1951/02/01 改正 1967/02/01 改正 1979/12/01 廃止 1995/03/01 |
||
| JIS C 5504 | ホーンスピーカ | 制定 1954/08/18 改正 1968/05/01 改正 1977/08/01 改正 1992/07/01 |
||
| JIS C 5505 | 輸出コーンスピーカ | 廃止 1960/03/01 | ||
| JIS C 5506 | ホノモータ | 廃止 1965/03/01 | ||
| JIS C 5507 | 基準レコード | 廃止 1971/12/01 | ||
| JIS C 5508 | 小形イヤホン | 制定 1959/03/30 改正 1978/08/01 廃止 1997/09/20 |
||
| JIS C 5509 | 磁気録音テープ | 制定 1966/04/01 改正 1971/04/01 改正 1977/06/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5510 | 磁気録音テープ用リール | 制定 1960/03/01 改正 1970/02/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5511 | テープレコーダ | 廃止 1966/03/01 | ||
| JIS C 5512 | 補聴器 | 制定 1966/11/01 改正 1976/12/01 改正 1981/01/15 改正 1986/02/01 改正 2000/03/27 |
IEC 60118-0 1983 IEC 60118-0:1983/AMENDMENT 1 1994 IEC 60118-1 1995 IEC 60118-11 1983 IEC 60118-12 1996 IEC 60118-1:1995/AMENDMENT 1 1998 IEC 60118-5 1983 IEC 60118-7 1983 IEC 60118-7:1983/AMENDMENT 1 1994 IEC 60126 1973 IEC 60711 1981 |
|
| JIS C 5513 | トランジスタメガホン | 制定 1962/08/01 改正 1970/01/01 廃止 1995/03/01 |
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| JIS C 5514 | ステレオ基準レコード | 廃止 1984/03/01 | ||
| JIS C 5515 | 標準コンデンサマイクロホン | 制定 1981/01/15 | ||
| JIS C 5520 | ホノモータ | 制定 1965/03/01 改正 1972/06/01 廃止 1994/06/01 |
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| JIS C 5521 | ホノモータ試験方法 | 制定 1965/03/01 改正 1972/06/01 改正 1975/06/01 廃止 1994/06/01 |
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| JIS C 5530 | コーンスピーカ通則 | 制定 1969/01/01 改正 1975/06/01 改正 1978/11/01 廃止 1994/06/01 |
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| JIS C 5531 | コーンスピーカ試験方法 | 制定 1969/01/01 改正 1975/06/01 改正 1978/11/01 廃止 1994/06/01 |
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| JIS C 5532 | 音響システム用スピーカ | 制定 1994/07/01 | IEC 60268-5 1989 | |
| JIS C 5540 | 磁気録音規準テープ | 制定 1971/04/01 廃止 1991/01/01 |
||
| JIS C 5541 | テープレコーダ試験用テープレコード | 制定 1971/04/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5542 | 磁気録音テープ試験方法 | 制定 1971/04/01 改正 1977/06/01 廃止 1991/01/01 |
||
| JIS C 5550 | テープレコーダ | 制定 1966/03/01 改正 1971/04/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5551 | テープレコーダ試験方法 | 制定 1966/01/01 改正 1971/04/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5561 | 16mm標準テスト磁気フィルム | 廃止 1981/01/15 | ||
| JIS C 5562 | 磁気テープ録音再生システム 第1部 一般条件及び要求事項 | 制定 1989/11/01 改正 1996/03/01 確認 2010/10/01 |
IEC 60094-1 1981 IEC 60094-1:1981/AMENDMENT 1 1994 |
|
| JIS C 5563 | 磁気テープ録音再生システム 第2部 キャリブレーションテープ | 制定 1989/11/01 改正 1996/03/01 |
IEC 60094-2 1994 | |
| JIS C 5564 | 磁気テープ録音再生システム 第3部 磁気テープ録音再生機器の特性測定方法 | 制定 1991/02/01 | IEC 60094-3 1979 | |
| JIS C 5565 | 磁気テープ録音再生システム 第4部 磁気テープの機械的特性 | 制定 1989/11/01 改正 1996/03/01 |
IEC 60094-4 1986 IEC 60094-4:1986/AMENDMENT 1 1994 |
|
| JIS C 5566 | 磁気テープ録音再生システム 第5部 磁気テープの電気的特性 | 制定 1989/11/01 改正 1997/02/20 |
IEC 60094-5 1988 IEC 60094-5:1988/AMENDMENT 1 1996 |
|
| JIS C 5567 | 磁気テープ録音再生システム 第6部 リール・ツー・リールシステム | 制定 1989/11/01 | IEC 60094-6 1985 | |
| JIS C 5568 | 磁気テープ録音再生システム 第7部 テープレコード用及び民生用カセット | 制定 1989/11/01 改正 1997/02/20 |
IEC 60094-7 1986 IEC 60094-7:1986/AMENDMENT 1 1996 |
|
| JIS C 5569 | 録音再生機器における速さ変動の測定方法 | 制定 1991/02/01 | IEC 60386 1972 | |
| JIS C 5570 | ビデオテープレコーダ | 制定 1973/06/01 廃止 1991/01/01 |
||
| JIS C 5572 | ビデオテープレコーダの磁気録音テープパターン | 制定 1973/06/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5573 | ビデオテープレコーダの端子及びその接続 | 制定 1974/02/01 廃止 1997/01/20 |
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| JIS C 5574 | 磁気録画テープ用リール | 制定 1973/12/01 廃止 1991/01/01 |
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| JIS C 5581 | VHS方式12.65mm (0.5in)磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム | 制定 1987/11/01 | IEC 60774 1983 | |
| JIS C 5582 | ベータフォーマット方式12.65mm(0.5in) 磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム | 制定 1987/11/01 | ||
| JIS C 5583 | 8mmビデオ－8mm磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステム | 制定 1992/07/01 | IEC 60843 1987 | |
| JIS C 5590 | テレビジョン受信機とディジタル周辺機器との相互接続（8ピンマルチコネクタ） | 制定 1988/05/01 廃止 1999/06/20 |
||
| JIS C 5591 | テレビジョン受信機とアナログ周辺機器との相互接続（21ピンマルチコネクタ） | 制定 1988/05/01 廃止 2006/01/20 |
||
| JIS C 5600 | 電子技術基本用語 | 制定 1971/04/01 改正 1977/06/01 改正 2006/11/20 |
IEC 60050-70 1959 | |
| JIS C 5601 | 電子通信用語（無線通信編その1） | 制定 1969/06/01 改正 1975/06/01 |
||
| JIS C 5602 | 電子機器用受動部品用語 | 制定 1986/02/01 | ||
| JIS C 5603 | プリント回路用語 | 制定 1987/07/01 改正 1993/05/01 |
IEC 60194 1988 | |
| JIS C 5610 | 集積回路用語 | 制定 1972/06/01 改正 1975/11/01 改正 1996/08/01 |
||
| JIS C 5620 | パルス技術用語 | 制定 1973/08/01 廃止 1999/06/20 |
||
| JIS C 5630-1 | マイクロマシン及びMEMSに関する用語 | 制定 2008/03/20 | IEC 62047-1 2005 | |
| JIS C 5700 | 信頼性保証電子部品通則 | 制定 1974/07/01 廃止 2006/01/20 |
||
| JIS C 5710 | 信頼性保証固定抵抗器通則 | 制定 1976/03/01 廃止 1988/07/01 |
||
| JIS C 5720 | 電子機器用金属皮膜固定抵抗器通則 | 制定 1976/03/01 改正 1988/09/01 改正 1994/03/01 廃止 2002/06/20 |
||
| JIS C 5721 | 電子機器用金属皮膜固定抵抗器－形状05，等級A | 制定 1976/03/01 改正 1991/02/01 廃止 2002/06/20 |
||
| JIS C 5722 | 電子機器用金属皮膜固定抵抗器－形状05，等級B | 制定 1976/03/01 改正 1991/02/01 廃止 2002/06/20 |
||
| JIS C 5723 | 電子機器用金属皮膜固定抵抗器－形状14，等級A | 制定 1991/02/01 廃止 2002/06/20 |
||
| JIS C 5724 | 電子機器用金属皮膜固定抵抗器－形状14，等級C | 制定 1991/02/01 廃止 2002/06/20 |
||
| JIS C 5725 | 電子機器用金属皮膜固定抵抗器－形状92，等級C | 制定 1991/02/01 廃止 2002/06/20 |
||
| JIS C 5730 | 信頼性保証固定体抵抗器通則 | 制定 1977/03/01 廃止 1991/09/01 |
||
| JIS C 5731 | 信頼性保証固定体抵抗器（故障率設定） | 制定 1977/03/01 廃止 1990/06/01 |
||
| JIS C 5732 | 信頼性保証固定体抵抗器（方式1の等級X） | 制定 1977/03/01 廃止 1991/09/01 |
||
| JIS C 5733 | 信頼性保証固定体抵抗器（方式2の等級X） | 制定 1977/03/01 廃止 1991/09/01 |
||
| JIS C 5740 | 信頼性保証電力形巻線固定抵抗器通則 | 制定 1977/10/01 廃止 1991/01/01 |
||
| JIS C 5741 | 信頼性保証電力形巻線固定抵抗器（特性S）（故障率設定） | 制定 1977/10/01 廃止 1991/09/01 |
||
| JIS C 5750-1 | ディペンダビリティ管理―第1部：ディペンダビリティプログラム管理 | 制定 2000/10/20 | IEC 60300-1 1995 | |
| JIS C 5750-2 | ディペンダビリティ管理―第2部：ディペンダビリティプログラム要素及びタスク | 制定 2000/10/20 | IEC 60300-2 1995 | |
| JIS C 5750-3-1 | ディペンダビリティ管理－第3－1部：適用の指針－ディペンダビリティ解析手法の指針 | 制定 2006/11/20 | IEC 60300-3-1 2003 | |
| JIS C 5750-3-2 | ディペンダビリティ管理－第3－2部：適用の指針－フィールドからのディペンダビリティデータの収集 | 制定 2008/03/20 | IEC 60300-3-2 2004 | |
| JIS C 5750-3-3 | ディペンダビリティ管理－第3－3部：適用の指針－ライフサイクルコスティング | 制定 2008/03/20 | IEC 60300-3-3 2004 | |
| JIS C 5750-3-4 | ディペンダビリティ管理－第3－4部：適用の指針－ディペンダビリティ要求事項仕様書作成の指針 | 制定 2003/11/20 | IEC 60300-3-4 1996 | |
| JIS C 5750-3-5 | ディペンダビリティ管理―第3―5部：適用の指針―信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験原則 | 制定 2006/03/25 | IEC 60300-3-5 2001 | |
| JIS C 5750-3-6 | ディペンダビリティ管理―第3－6部：適用の指針―ディペンダビリティにおけるソフトウェアの側面 | 制定 2003/11/20 | IEC 60300-3-6 1997 | |
| JIS C 5750-3-7 | ディペンダビリティ管理―第3－7部：適用の指針―電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング | 制定 2003/11/20 | ||
| JIS C 5750-4-1 | ディペンダビリティ管理－第4－1部：適用の指針－リユース部品を含む製品のディペンダビリティ－機能性及び試験に関する要求事項 | 制定 2008/03/20 | IEC 62309 2004 | |
| JIS C 5750-4-2 | ディペンダビリティ管理－第4－2部：適用の指針－ソフトウェアライフサイクルプロセスにおけるソフトウェアディペンダビリティ | 制定 2008/03/20 | IEC 61713 2000 | |
| JIS C 5810 | 信頼性保証固定コンデンサ通則 | 制定 1976/03/01 廃止 1988/07/01 |
||
| JIS C 5820 | 信頼性保証固定磁器コンデンサ通則 | 制定 1976/03/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5821 | 信頼性保証固定磁器コンデンサ（種類1） | 制定 1976/03/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5830 | 信頼性保証電解コンデンサ通則 | 制定 1977/03/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5831 | 信頼性保証タンタル固体電解コンデンサ | 制定 1979/10/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5832 | 信頼性保証アルミニウムはく形電解コンデンサ | 制定 1980/12/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5840 | 制定 1977/11/01 改正 1982/03/01 |
1988/09/01 | ||
| JIS C 5841 | 信頼性保証プラスチックフィルムコンデンサ特性M | 制定 1982/03/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5842 | 信頼性保証プラスチックフィルムコンデンサ特性S | 制定 1982/03/01 廃止 1991/05/01 |
||
| JIS C 5850 | 信頼性保証固定マイカコンデンサ通則 | 制定 1979/03/01 廃止 1990/06/01 |
||
| JIS C 5860 | 空間ビーム光用受動部品通則 | 制定 1990/01/01 改正 1997/11/20 |
||
| JIS C 5870 | 干渉フィルタ通則 | 制定 1990/01/01 改正 1992/09/01 |
||
| JIS C 5871 | 干渉フィルタ試験方法 | 制定 1992/09/01 | ||
| JIS C 5872 | 空間ビーム光用光アイソレータ通則 | 制定 1992/09/01 廃止 2006/11/20 |
||
| JIS C 5873 | 空間ビーム光用光アイソレータ試験方法 | 制定 1992/09/01 | ||
| JIS C 5900 | 光伝送用受動部品通則 | 制定 1987/03/01 改正 1996/08/01 改正 2006/11/20 |
||
| JIS C 5901 | 光伝送用受動部品試験方法 | 制定 1987/03/01 改正 2001/03/20 |
IEC 61300-1 1995 IEC 61300-2-1 1995 IEC 61300-2-11 1995 IEC 61300-2-12 1995 IEC 61300-2-14 1997 IEC 61300-2-17 1995 IEC 61300-2-18 1995 IEC 61300-2-19 1995 IEC 61300-2-21 1995 IEC 61300-2-22 1995 IEC 61300-2-26 1995 IEC 61300-2-39 1997 IEC 61300-2-4 1995 IEC 61300-2-5 1995 IEC 61300-2-8 1995 IEC 61300-2-9 1995 IEC 61300-3-1 1995 IEC 61300-3-12 1997 IEC 61300-3-13 1995 IEC 61300-3-14 1995 |
|
| JIS C 5910 | 光ブランチングデバイス通則（波長選択性のないもの） | 制定 1987/03/01 改正 1999/07/20 改正 2006/11/20 |
IEC 60875-1 1992 | |
| JIS C 5912 | 波長スイッチ通則 | 制定 2006/03/25 | IEC 62099 2001 | |
| JIS C 5914 | 光サーキュレータ通則 | 制定 2006/03/25 | IEC 62077 2001 | |
| JIS C 5916 | 光伝送用分散補償器通則 | 制定 2006/03/25 | IEC 61978-1 2000 | |
| JIS C 5920 | 光減衰器通則 | 制定 1988/04/01 改正 1997/11/20 改正 2005/12/20 |
IEC 60869-1 1994 | |
| JIS C 5930 | 光スイッチ通則 | 制定 1988/11/01 改正 1997/11/20 改正 2005/12/20 |
IEC 60876-1 2001 | |
| JIS C 5931 | 光スイッチ試験方法 | 制定 1988/11/01 | IEC 60876-1 1986 | |
| JIS C 5932 | 光アイソレータ通則 | 制定 1993/10/01 改正 1999/07/20 改正 2006/11/20 |
IEC 61202-1 1994 | |
| JIS C 5933 | 光伝送用光アイソレータ試験方法 | 制定 1993/10/01 | ||
| JIS C 5934 | 光伝送用レンズ通則 | 制定 1999/07/20 | ||
| JIS C 5935 | 光伝送用レンズ試験方法 | 制定 2005/01/20 | ||
| JIS C 5940 | 光伝送用半導体レーザ通則 | 制定 1989/03/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 2 1995 |
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| JIS C 5941 | 光伝送用半導体レーザ測定方法 | 制定 1989/03/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
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| JIS C 5942 | 再生及び記録用半導体レーザ通則 | 制定 1990/01/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
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| JIS C 5943 | 再生及び記録用半導体レーザ測定方法 | 制定 1990/01/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
|
| JIS C 5944 | 光伝送用半導体レーザモジュール通則 | 制定 1996/09/20 改正 2005/04/20 |
IEC 62007-1 1999 | |
| JIS C 5945 | 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法 | 制定 1996/09/20 改正 2005/04/20 |
IEC 62007-2 1996 | |
| JIS C 5946 | 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則 | 制定 2005/01/20 | IEC 62007-1 1999 | |
| JIS C 5947 | 光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法 | 制定 2005/01/20 | IEC 62007-2 1999 | |
| JIS C 5948 | 光伝送用半導体レーザモジュールの信頼性評価方法 | 制定 2007/03/20 | IEC 61751 1998 | |
| JIS C 5950 | 光伝送用発光ダイオード通則 | 制定 1989/05/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-1 1983 IEC 60747-1:1983/AMENDMENT 1 1991 IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
|
| JIS C 5951 | 光伝送用発光ダイオード測定方法 | 制定 1989/05/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
|
| JIS C 5953-1 | 光伝送用能動部品－性能標準－第1部：総則 | 制定 2007/03/20 | IEC 62149-1 2004 | |
| JIS C 5953-3 | 光伝送用能動部品－性能標準－第3部：2．5 | IEC 62149-3 2004 | ||
| JIS C 5961 | 光ファイバコネクタ試験方法 | 制定 1987/06/01 改正 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1997/12/20 改正 2005/12/20 |
IEC 61300 | |
| JIS C 5962 | 光ファイバコネクタ通則 | 制定 1987/06/01 改正 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1997/12/20 改正 2001/03/20 |
||
| JIS C 5963 | 光ファイバコード付き光コネクタ通則 | 制定 2001/03/20 | ||
| JIS C 5970 | F01形単心光ファイバコネクタ | 制定 1987/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 改正 2005/12/20 |
IEC 60874-7 1993 | |
| JIS C 5971 | F02形単心光ファイバコネクタ | 制定 1987/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
IEC 60874-8 1993 | |
| JIS C 5972 | F03形単心光ファイバコネクタ | 制定 1987/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
IEC 60874-9 1993 | |
| JIS C 5973 | F04形光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 改正 2005/12/20 |
IEC 61754-4 2002 | |
| JIS C 5974 | F05形単心光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
IEC 60874-17 1995 | |
| JIS C 5975 | F06形単心光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
||
| JIS C 5976 | F07形2心光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 改正 2001/03/20 |
||
| JIS C 5977 | F08形2心光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
||
| JIS C 5978 | F09形単心光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
||
| JIS C 5979 | F10形単心光ファイバコネクタ | 制定 1990/06/01 改正 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
||
| JIS C 5980 | F11形光ファイバコネクタ | 制定 1993/10/01 改正 1998/05/20 |
IEC 60874-15 1994 | |
| JIS C 5981 | F12形多心光ファイバコネクタ | 制定 1993/10/01 改正 1998/05/20 改正 2005/12/20 |
IEC 61754-5 1996 | |
| JIS C 5982 | F13形多心光ファイバコネクタ | 制定 1997/11/20 改正 2001/03/20 |
IEC 61754-7 1996 | |
| JIS C 5983 | F14形光ファイバコネクタ | 制定 1997/11/20 改正 2006/01/20 |
IEC 61754-6 1997 | |
| JIS C 5984 | F15形光ファイバコネクタ | 制定 2001/03/20 | IEC 61754-10 2000 | |
| JIS C 5985 | F16形光ファイバコネクタ | 制定 2001/03/20 | IEC 61754-4-1 2000 | |
| JIS C 5986 | F17形光ファイバコネクタ | 制定 2006/11/20 | IEC 61754-6-1 2003 | |
| JIS C 5987 | F18形光ファイバコネクタ | 制定 2005/12/20 | ||
| JIS C 5988 | F19形光ファイバコネクタ | 制定 2005/12/20 | IEC 61754-18 2001 | |
| JIS C 5990 | 光伝送用フォトダイオード通則 | 制定 1988/04/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
|
| JIS C 5991 | 光伝送用フォトダイオード測定方法 | 制定 1988/04/01 改正 1997/08/20 |
IEC 60747-5 1992 IEC 60747-5:1992/AMENDMENT 1 1994 |
「日本産業規格（電気・電子）の一覧 (C 5000-5999)」の例文・使い方・用例・文例
- 混合様式 《古代ローマ建築の様式で, イオニア様式 (Ionic order) とコリント様式 (Corinthian order) の折衷様式》.
- この望遠鏡は電荷結合素子(CCD)カメラが取り付けられており，そのような望遠鏡の中では最大の観測視野を持っている。
- ジャック・ライアンは，アメリカ中央情報局(CIA)の若い情報分析官だ。
- 暗殺者は，アメリカ中央情報局(CIA)のコンクリン(クリス・クーパー)によって差し向けられていた。
- 統治評議会は，暫(ざん)定(てい)行政当局(CPA)によって選ばれた25人のメンバーで構成されている。
- ６月28日，イラクの主権が連合国暫(ざん)定(てい)当局(CPA)からイラク暫定政府へ移譲された。
- 彼らは画像を撮影するのに，コンピュータ断層撮影(装置)(CT)を使用した。
- 新しく開発された装置は，年輪を数えるのにコンピュータ断層撮影法(CT)を利用する。
- 韓国で11月17日,大学修学能力試験(CSAT)が行われた。
- そのため，研究者たちは，頭部を解剖するのではなく，コンピュータ断層撮影(CTスキャン)を使用した。
- 彼は自分が米国の中央情報局(CIA)の暗殺者だったことを探り出した。
- ちきゅうにはまた，海底地殻のサンプルを分析するために，コンピュータ断層撮影(CTスキャン)装置がある。
- キリスト教民主同盟(CDU)のアンゲラ・メルケル党首が同国で初の女性首相に選ばれたのだ。
- OSSは中央情報局(CIA)の前身となる米国の諜(ちょう)報(ほう)機関だ。
- 放射線診断には，コンピュータ断層撮影法(CT)や磁気共鳴画像法(MRI)などの診断画像を使った診断が含まれます。
- この閣議は，国連気候変動枠組み条約第15回締約国会議(COP15)の開始直前に開かれた。
- アップルの最高経営責任者(CEO)であるスティーブ・ジョブズ氏は記者会見で，「iPadは我々の最も進んだ技術を反映した魔法のようで革新的な機器であり，驚きの価格で提供されます。」と語った。
- 生物多様性条約第10回締約国会議(CBD COP10)が10月30日に愛知県名古屋市で閉幕した。
- しかし，同校が入居していたカンタベリーテレビ(CTV)ビルが地震で倒壊した。
- 国際家電ショー(CES)が１月８日から11日まで，米国ネバダ州ラスベガスで開催された。
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