オーミック接触の形成の物理とは? わかりやすく解説

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オーミック接触の形成の物理

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2019/05/21 15:15 UTC 版)

オーミック接触」の記事における「オーミック接触の形成の物理」の解説

詳細は「金属-半導体接合」を参照 オーミック接触ショットキー障壁どちらもショットキー障壁高さに依存するショットキー障壁高さは、電子半導体から金属移動するためのに必要な余分エネルギーしきい値決める。両方方向簡単に電子通れる(オーミック接触)のためには、障壁高さは少なくとも接合界面いくつかの部分において小さくなければならない良いオーミック接触(低抵抗)を作るために、障壁高さはすべての部分小さい必要があり、さらに界面電子反射してはいけない。 金属半導体の間のショットキー障壁高さは、金属-真空仕事関数半導体-真空電子親和力の差に比例するショットキーモット則によってナイーブに予言される実際は、多く金属-半導体界面予想され程度ほどはこのルール従わないその代わり金属対す半導体結晶化学的な末端バンドギャップ内に電子状態作る。この金属誘起ギャップ状態の性質電子占有は、バンドギャップ中心フェルミ準位ピン止めし、フェルミ準位ピン止めとして知られる金属-半導体接触でのショットキー障壁の高さは、ショットキーモット則と全く対照的に半導体金属の仕事関数の値にわずかしか依存しない半導体異なればフェルミ準位ピン止めを示す程度異なるが、高品質(低抵抗)なオーミック接触シリコンガリウムヒ素などの重要な半導体作ることは通常難しい。 ショットキーモット則は完全に間違いというわけではない。実際は、大きな仕事関数金属p型半導体と良い接触作るが、小さ仕事関数金属n型半導体とよい接触作る残念ながらこのモデルの予測力は、この内容を超えて広がらないことが実験的に示されている。現実的な状況下では、接触金属半導体表面反応して新し電子特性をもつ化合物作る界面での不純物層は、障壁効果的に広げる半導体表面再構成し、新し電子状態作る界面化学詳細への接触抵抗依存性は、課題である再現性のあるオーミック接触製造作ることである

※この「オーミック接触の形成の物理」の解説は、「オーミック接触」の解説の一部です。
「オーミック接触の形成の物理」を含む「オーミック接触」の記事については、「オーミック接触」の概要を参照ください。

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