スペックル干渉法に基づく技術とは? わかりやすく解説

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スペックル干渉法に基づく技術

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/06/27 10:11 UTC 版)

スペックル・イメージング」の記事における「スペックル干渉法に基づく技術」の解説

1970年フランス天文学者 Antoine Labeyrie は、スペックル・パターンをフーリエ解析 (スペックル干渉) することより天体の高分解能構造に関する情報を得ることができること示した1980年代には、これらのスペックル・パターンから干渉法によりイメージ再構成するための技術開発された。 もう一つ現代タイプのスペックル干渉法はスペックル・マスキング (en:speckle masking) と呼ばれるものであり、短時間露光イメージからのバイスペクトル (bispectrum) あるいは 閉口位相 (en:closure phase)と呼ばれるものの計算を含む。平均バイスペクトルは計算することができ、これをイメージ変換することが可能である。これは開口マスク (aperture masks) を用いた場合とりわけうまく働く。この開口マスクアレンジでは望遠鏡開口部はいくつかの光が通る穴を除いて塞がれ小さな光学的干渉計構成する。この状態での分解能はその望遠鏡通常の状態よりも良くなるキャヴェンディッシュ研究所宇宙物理学部門がこの開口マスク技術先駆者である。 この技術限界一つは、それがイメージ大規模なコンピューター処理を必要とすることであり、これは最初にこの技術開発され当時では、乗り越えることが困難であった。ほとんど万能思われData General Nova1969年当時16ビット・ミニコンピューター)をもってしても遅すぎて、適用重要な天体に絞らざるを得なかった。この限界数年間でコンピューターパワーが進歩したために消失し今日ではデスクトップ・コンピューターがこの処理を取るに足らないものとしてしまうほどのパワー備えるに至った

※この「スペックル干渉法に基づく技術」の解説は、「スペックル・イメージング」の解説の一部です。
「スペックル干渉法に基づく技術」を含む「スペックル・イメージング」の記事については、「スペックル・イメージング」の概要を参照ください。

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