crystal structure analysisとは? わかりやすく解説

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結晶構造解析

【英】:crystal structure analysis

電子線によるには電子顕微鏡ではなく電子回折図形用いられる。その理由は、電子顕微鏡像の空間分解能は、約0.1nmであり、電子回折図形から得られる分解能は0.001nmに達するからである。構造解析方法には、運動学的回折適用する方法動力学的回折適用する方法がある。前者軽元素からなる薄い結晶場合で、動力学効果無視できる場合適用される実際蛋白などの結晶に対して用いられ回折図形から各反射強度測定し対応する電顕像をコンピューター使ってフーリエ変換して、各反射散乱因子実部虚部から位相求める。それらの強度位相フーリエ合成して結晶構造を得る。後者収束電子回折法を利用して固体材料ナノスケール用いられる。数10mradの入射角を持つ電子線試料上の直径10nm以下の領域照射して、その領域からの回折図形を得る。得られ回折図形入射角広がり対応した2次元的に広がるディスク状の回折図形2次元的なロッキングカーブ)である。この図形動力学効果のために複雑な図形をしており、運動学的回折から期待されるロッキングカーブであるラウエ関数とは大変異なっている。動力学効果全面的に取り入れた強度計算実験得られ図形とのフィッティングから結晶構造解かれる回折波位相は、多重回折のために回折強度反映されているので、運動学的回折のときのように別途回折波位相求める必要はない。収束電子回折法による固体への応用では、結晶1次構造よりも、局所的な構造電子状態など2次構造研究が重要である。実験の方法としては非弾性散乱取り除くエネルギーフィルタが必要である。第3近似方法として、プリセッション法がある。この方法では、プリセッション法すなわち入射ビームをある晶帯軸から数度傾けて円錐状に振って、強い動力学効果避け、そこから得られる強度加算する得られ強度運動学理論適用し位相推定にはX線回折法使われる直接法用いて結晶構造を解く。

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結晶解析

同義/類義語:結晶構造解析
英訳・(英)同義/類義語:Crystallography, crystal structure analysis

原子分子結晶X線通過すると、そのパターンに応じてX線回折されることを利用し結晶構成した分子の構造解析を行うこと


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