走査型トンネル電子顕微鏡とは? わかりやすく解説

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走査型トンネル顕微鏡

(走査型トンネル電子顕微鏡 から転送)

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2024/06/27 17:54 UTC 版)

走査型トンネル顕微鏡(そうさがたトンネルけんびきょう、Scanning Tunneling Microscope(STM))は1982年ゲルト・ビーニッヒ(G. Binnig)とハインリッヒ・ローラー(H. Rohrer)によって作り出された実験装置であり、走査型プローブ顕微鏡の一形式である。非常に鋭く尖った探針導電性の物質の表面または表面上の吸着分子に近づけ、流れるトンネル電流から表面の原子レベルの電子状態、構造など観測するもの。トンネル電流を使うことからこの名がある。


  1. ^ C. F. Quate, Physics Today, 8, 26 (1986)
  2. ^ G. Binning et al., Phys. Rev. Lett., 27, 922 (1982)
  3. ^ US4,343,993[1] Priority number(s): CH19790008486 19790920, Also published as: EP0027517 (A1) EP0027517 (B1) CH643397 (A5) [2]


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