走査型トンネル分光法とは? わかりやすく解説

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走査型トンネル分光法

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2024/06/27 17:53 UTC 版)

走査型トンネル分光法(そうさがたトンネルぶんこうほう、Scanning tunneling spectroscopy)とは、走査型トンネル顕微鏡の探針を使用して試料の表面の状態を分析する手法。原子スケールの分解能で試料の局所的な電子状態密度に対応したトンネルスペクトルが得られる[1]

概要

走査型トンネル顕微鏡の開発と同時期に開発された[2][3]

脚注

  1. ^ 梶村皓二、「表面を探る : 2. 表面顕微鏡: 超伝導体と有機物質のSTM/STS (<特集> 表面)」 『日本物理学会誌』 1991年 46巻 4号 p.288-293, doi:10.11316/butsuri1946.46.288, 日本物理学会
  2. ^ 富取正彦、「走査型トンネル分光法の基礎 (PDF) 」 『顕微鏡』 43.1 (2008): p.46-49.
  3. ^ 富取正彦、「STM/STS と走査探針」 『電子顕微鏡』 1999年 34巻 2号 p.147-149, doi:10.11410/kenbikyo1950.34.147, 日本顕微鏡学会

参考文献

関連項目




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