走査型近接場光顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2023/08/14 07:46 UTC 版)
走査型近接場光顕微鏡（そうさがたきんせつばこうけんびきょう、英語: scanning near field optical microscopy; SNOM）は、近接場光という特殊な光を利用した走査型の顕微鏡のことである。しばしば NSOM（Near field scanning optical microscopy）とも呼ばれる。
- ^ Synge, EdwardH. "A suggested method for extending microscopic resolution into the ultra-microscopic region." The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science 6.35 (1928): 356-362.
- ^ Synge, Edward Hutchinson. "An application of piezo-electricity to microscopy." The London, Edinburgh, and Dublin Philosophical Magazine and Journal of Science 13.83 (1932): 297-300.
- ^ a b 鶴岡徹、「近接場光を用いた計測技術とその応用」『計測と制御』 2006年 45巻 2号 p.105-110, doi:10.11499/sicejl1962.45.105
- ^ a b 河田聡, 波多野洋、「近接場光学顕微鏡」『BME』 1997年 11巻 5号 p.3-11, doi:10.11239/jsmbe1987.11.5_3
- ^ Ash, E. A., and G. Nicholls. "Super-resolution aperture scanning microscope." Nature 237.5357 (1972): 510-512.
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- 2 走査型近接場光顕微鏡の概要
- 3 原理
- 4 特徴
- 5 関連項目
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