ケルビンプローブフォース顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/10/15 09:07 UTC 版)
ケルビンプローブフォース顕微鏡（ケルビンプローブフォースけんびきょう、英: Kelvin probe Force Microscopy: KFM）は、原子間力顕微鏡 (AFM) を元に開発された顕微鏡の一種[1]。イギリスのケルビン卿が接触電位差として短針と試料との電位差が得られることを発見した事が名前の由来となっている[4]。
- ^ a b c d e f 菅原、野村、内藤、李 2012, pp. 18–21, 「2. ケルビンプローブフォース顕微鏡の測定原理」
- ^ Nonnenmacher,M. and O’Boyle,M. P. and Wickramasinghe,H. K.「Kelvin probe force microscopy」『Applied Physics Letters』第58巻第25号、1991年、 2921-2923頁、 doi:10.1063/1.105227。
- ^ Nonnenmacher, O’Boyle & Wickramasinghe 1991, pp. 2921–2923
- ^ 菅原ほかの論文の典拠[2]より、M. Nonnenmacherほか著[3]）。
- ^ 水谷 2001, pp. 281–281
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- 2 ケルビンプローブフォース顕微鏡の概要
- 3 参考文献
- 4 関連項目
ケルビンプローブフォース顕微鏡と同じ種類の言葉
| 顕微鏡に関連する言葉 | 限外顕微鏡(げんがいけんびきょう) イオン放射顕微鏡(イオンほうしゃけんびきょう) ケルビンプローブフォース顕微鏡 走査型近接場光顕微鏡 バーチャル顕微鏡 |
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