そうさがたとうかでんし‐けんびきょう〔ソウサガタトウクワデンシケンビキヤウ〕【走査型透過電子顕微鏡】
走査型透過電子顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2018/09/18 14:36 UTC 版)
走査型透過電子顕微鏡（Scanning Transmission Electron Microscope、STEM)）とは透過型電子顕微鏡の１つ。集束レンズによって細く絞った電子線プローブを試料上で走査し、各々の点での透過電子を検出することで像を得る。
- ^ Nellist, P.D.; Pennycook, S.J. (1999年6月). “Incoherent imaging using dynamically scattered coherent electrons”. Ultramicroscopy 78 (1-4): 111–124. doi:10.1016/s0304-3991(99)00017-0. ISSN 0304-3991.
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