走査型トンネル顕微鏡
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/10/29 15:42 UTC 版)
走査型トンネル顕微鏡(そうさがたトンネルけんびきょう、Scanning Tunneling Microscope(STM))は1982年、ゲルト・ビーニッヒ(G. Binnig)とハインリッヒ・ローラー(H. Rohrer)によって作り出された実験装置であり、走査型プローブ顕微鏡の一形式である。日本語において従来からある光学顕微鏡や電子顕微鏡の装置名の付け方からすると走査型トンネル効果プローブ電子顕微鏡などが相応しいのであるが、より簡便な言い回しもまた必要であり現在では走査型トンネル顕微鏡または単にトンネル顕微鏡と呼ばれる[1]。非常に鋭く尖った探針を導電性の物質の表面または表面上の吸着分子に近づけ、流れるトンネル電流から表面の原子レベルの電子状態、構造など観測するもの。トンネル電流を使うことからこの名がある。
- 1 走査型トンネル顕微鏡とは
- 2 走査型トンネル顕微鏡の概要
- 3 参考文献
走査型トンネル顕微鏡と同じ種類の言葉
装置に関連する言葉 | 調速機 質量分析器(しつりょうぶんせきき) 走査型トンネル顕微鏡(そうさがたトンネルけんびきょう) 超音波測深機 身体装検器 |
顕微鏡に関連する言葉 | 全反射照明蛍光顕微鏡 共焦点顕微鏡 原子間力顕微鏡 光学顕微鏡(こうがくけんびきょう) 走査型トンネル顕微鏡(そうさがたトンネルけんびきょう) |
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