材料分析法の一覧とは? わかりやすく解説

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材料分析法の一覧

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2024/05/25 09:39 UTC 版)

材料分析法の一覧:

A

  • Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
  • AAS - 原子吸光分光(Atomic absorption spectroscopy)
  • AED - オージェ電子回折(Auger electron diffraction)
  • AES - オージェ電子分光(Auger electron spectroscopy)
  • AFM - 原子間力顕微鏡(Atomic force microscope|Atomic force microscopy)
  • AFS - 原子蛍光分光(Atomic fluorescence spectroscopy)
  • APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡(Atom probe field ion microscopy)
  • APS - 出現電位分光(Appearance potential spectroscopy)
  • ARPES - 角度分解光電子分光(Angle resolved photoemission spectroscopy)
  • ARUPS - 角度分解紫外光電子分光(Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy)
  • ATR -減衰全反射英語版(Attenuated total reflectance)

B

  • BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
  • BiFC - 二分子蛍光補完英語版(Bimolecular fluorescence complementation)
  • BKD - 後方散乱菊池回折(Backscatter Kikuchi diffraction)、EBSDを参照
  • BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動(Bioluminescence resonance energy transfer)
  • BSED - 後方散乱電子回折(Back scattered electron diffraction)、EBSDを参照

C

D

E

F

G

  • GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法(Gas chromatography-mass spectrometry)
  • GD-MS - グロー放電質量分析法(Glow discharge mass spectrometry)
  • GD-OES - グロー放電発光分光(Glow discharge optical spectroscopy)
  • GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱(Grazing incidence small angle X-ray scattering)
  • GIXD - すれすれ入射X線回折(Grazing incidence X-ray diffraction)
  • GIXR - すれすれ入射X線反射率測定(Grazing incidence X-ray reflectivity)
  • GLC - 気液クロマトグラフィー(Gas-liquid chromatography)

H

  • HAADF - 高角環状暗視野像(high angle annular dark-field imaging)
  • HAS - ヘリウム原子線散乱英語版(Helium atom scattering)
  • HPLC - 高速液体クロマトグラフィー(High performance liquid chromatography)
  • HREELS - 高分解能電子エネルギー損失分光英語版(High resolution electron energy loss spectroscopy)
  • HREM - 高分解能電子顕微鏡(High-resolution electron microscopy)
  • HRTEM - 高分解能透過型電子顕微鏡英語版(High-resolution transmission electron microscopy)
  • HI-ERDA - 重イオン弾性反跳検出分析(Heavy-ion elastic recoil detection analysis)
  • HE-PIXE - 高エネルギー陽子励起X線放出(High-energy proton induced X-ray emission)

I

  • IAES - イオン励起オージェ電子分光(Ion induced Auger electron spectroscopy)
  • IBA - イオンビーム分析英語版(Ion beam analysis)
  • IBIC - イオンビーム誘起電荷顕微鏡(Ion beam induced charge microscopy)
  • ICP-AES - 誘導結合プラズマ発光分析(Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy)
  • ICP-MS - 誘導結合プラズマ質量分析(Inductively coupled plasma mass spectrometry)
  • Immunofluorescence - 免疫蛍光
  • ICR - イオンサイクロトロン共鳴英語版(Ion cyclotron resonance)
  • IETS - 非弾性電子トンネル分光英語版(Inelastic electron tunneling spectroscopy)
  • IGA - Intelligent gravimetric analysis
  • IGF - 不活性ガス融解(Inert gas fusion)
  • IIX - イオン励起X線分析(Ion induced X-ray analysis):粒子線励起X線分析を参照
  • INS - 非弾性中性子散乱(Inelastic neutron scattering)、イオン中和分光(Ion neutralization spectroscopy)
  • IRNDT - 赤外線非破壊検査英語版(Infrared non-destructive testing of materials)
  • IRS - 赤外分光法(Infrared spectroscopy)
  • ISS - イオン散乱分光(Ion scattering spectroscopy)
  • ITC - 等温滴定カロリメトリー(Isothermal titration calorimetry)
  • IVEM - 中間電圧電子顕微鏡(Intermediate voltage electron microscopy)

L

M

N

O

  • OBIC - 光ビーム誘起電流英語版(Optical beam induced current)
  • ODNMR - 光検出磁気共鳴(Optically detected magnetic resonance)、ESRやEPRを参照
  • OES - 発光分光(Optical emission spectroscopy)
  • Osmometry - 浸透圧測定英語版

P

  • PAS - 陽電子消滅分光英語版(Positron annihilation spectroscopy)
  • Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光(Photoacoustic spectroscopy)
  • PAT or PACT - 光音響トモグラフィー(Photoacoustic tomography)または光音響コンピュータトモグラフィー(photoacoustic computed tomography)
  • PAX - Photoemission of adsorbed xenon
  • PC or PCS - 光電流分光(Photocurrent spectroscopy)
  • Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡(Phase contrast microscopy)
  • PhD - 光電子回折(Photoelectron diffraction)
  • PD - 光脱離(Photodesorption)
  • PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
  • PDS - 光熱偏向分光法(Photothermal deflection spectroscopy)
  • PED - 光電子回折(Photoelectron diffraction)
  • PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光(parallel electron energy loss spectroscopy)
  • PEEM - 光電子顕微鏡(Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
  • PES - 光電子分光(Photoelectron spectroscopy)
  • PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法(photon-induced near-field electron microscopy)
  • PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出(Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy)、 核反応法を参照
  • PIXE - 粒子線励起X線分析(Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy)
  • PL - フォトルミネッセンス(Photoluminescence)
  • Porosimetry - ポロシメトリー(Porosimetry)
  • Powder diffraction - 粉末回折法英語版(Powder diffraction)
  • PTMS - 光熱変換顕微分光英語版(Photothermal microspectroscopy)
  • PTS - 光熱変換分光法(Photothermal spectroscopy)

Q

  • QENS - 中性子準弾性散乱英語版(Quasielastic neutron scattering)

R

  • Raman - ラマン分光法(Raman spectroscopy)
  • RAXRS - 共鳴異常X線散乱英語版(Resonant anomalous X-ray scattering)
  • RBS - ラザフォード後方散乱分光(Rutherford backscattering spectrometry)
  • REM - 反射電子顕微鏡(Reflection electron microscopy)
  • RDS - 反射率差分光英語版(Reflectance Difference Spectroscopy)
  • RHEED - 反射高速電子線回折(Reflection high energy electron diffraction)
  • RIMS - 共鳴イオン化質量分析英語版(Resonance ionization mass spectrometry)
  • RIXS - 共鳴非弾性X線散乱英語版(Resonant inelastic X-ray scattering)
  • RR spectroscopy - 共鳴ラマン分光英語版(Resonance Raman spectroscopy)

S

T

  • TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー(Thermoacoustic tomography)または熱音響コンピュータトモグラフィー(thermoacoustic computed tomography)、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
  • TEM - 透過型電子顕微鏡(transmission electron microscopy)
  • TGA - 熱重量分析(Thermogravimetric analysis)
  • TIKA - Transmitting ion kinetic analysis
  • TIMS - 表面電離型質量分析英語版(Thermal ionization mass spectrometry)
  • TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡(Total internal reflection fluorescence microscopy)
  • TLS - 熱レンズ分光(Photothermal lens spectroscopy)、光熱分光の一種
  • TMA - 熱機械分析英語版(Thermomechanical analysis)
  • TOF-MS - 飛行時間型質量分析計(Time-of-flight mass spectrometry)
  • Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡(Two-photon excitation microscopy)
  • TXRF - 全反射蛍光X線(Total reflection X-ray fluorescence)

U

  • Ultrasound attenuation spectroscopy - 超音波減衰分光英語版
  • Ultrasonic testing - 超音波探傷検査(Ultrasonic testing)
  • UPS - 紫外光電子分光法(UV-photoelectron spectroscopy)
  • USANS - 超小角中性子散乱(Ultra small-angle neutron scattering)
  • USAXS - 超小角X線散乱(Ultra small-angle X-ray scattering
  • UV-Vis - 紫外可視分光法(Ultraviolet-visible spectroscopy)

V

W

X

  • XAES - X線励起オージェ電子分光(X-ray induced Auger electron spectroscopy)
  • XANES - エックス線吸収端近傍構造英語版(X-ray Absorption Near Edge Structure)
  • XAS - X線吸収分光法(X-ray absorption spectroscopy)
  • X-CTR - X線結晶トランケーションロッド英語版散乱(X-ray crystal truncation rod scattering)
  • X-ray crystallography - X線結晶構造解析(X-ray crystallography)
  • XDS - X線散漫散乱(X-ray diffuse scattering)
  • XPEEM - X線光電子顕微鏡(X-ray photoelectron emission microscopy)
  • XPS - X線光電子分光(X-ray photoelectron spectroscopy)
  • XRD - X線回折(X-ray diffraction)
  • XRES - X線共鳴交換散乱(X-ray resonant exchange scattering)
  • XRF - 蛍光X線分析(X-ray fluorescence analysis)
  • XRR - X線反射率法英語版(X-ray reflectivity)
  • XRS - X線ラマン散乱英語版(X-ray Raman scattering)
  • XSW - X線定在波英語版法(X-ray standing wave technique)

参考文献




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