観測法
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/07/20 08:33 UTC 版)
格子欠陥を直接観測する方法としては以下がある。 電子顕微鏡 ブラッグ反射の強度変化による回折コントラストとして観測される。薄膜試料で用いられ、欠陥密度が高い場合に見ることができる。 走査プローブ顕微鏡 鋭利に尖ったプローブを用いて、原子レベルで結晶表面の格子欠陥を直接観察し、構造、電子状態、反応機構などを解析できる。また、格子欠陥のマニピュレーションなども可能である。 X線回折 電子顕微鏡と同じく回折コントラストとして観測される。厚い試料で用いられ、欠陥密度の小さい場合に有効である。 光散乱 欠陥近傍での光の屈折率の変化による光散乱を観察する。 電子スピン共鳴 欠陥の不対電子による磁気共鳴の吸収を観察する。 カソードルミネッセンス、フォトルミネッセンス 電流や光を欠陥に与えることで生じる発光を観察する。
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