四フッ化キセノン 四フッ化キセノンの概要

四フッ化キセノン

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/03/24 07:55 UTC 版)

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四フッ化キセノン
識別情報
CAS登録番号 13709-61-0
特性
化学式 XeF4
モル質量 207.2836 g mol−1
外観 白色固体
密度 4.040 g cm−3, 固体
沸点

117 ℃ (390 K)

構造
配位構造 D4h
分子の形 平面四角形
双極子モーメント 0 D
危険性
引火点 ? ℃
特記なき場合、データは常温 (25 °C)・常圧 (100 kPa) におけるものである。

この物質の構造は、1963年に核磁気共鳴分光法X線結晶構造解析により平面四角形であると報告されている[5][6]。キセノンが2対の孤立電子対をもっているため、この構造はVSEPR理論により説明される。

四フッ化キセノンは、無色の結晶として発生する。115.7℃で昇華する。

キセノンのフッ化物は標準温度で全て熱力学的に安定であるが、空気中の水分とさえ反応するので、乾燥状態で保存しなければならない。

この物質とフッ化テトラメチルアンモニウムを反応させると、ペンタフルオロキセノン酸テトラメチルアンモニウムが得られる。

脚注

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出典


  1. ^ Claassen, H. H.; Selig, H.; Malm, J. G. "Xenon Tetrafluoride" J. Am. Chem. Soc. 1962, 84, 3593. DOI: 10.1021/ja00877a042
  2. ^ a b Zumdahl. Chemistry. p. 243. ISBN 0-618-52844-X 
  3. ^ Claassen, H. H.; Selig, H.; Malm, J. G. (1962). “Xenon Tetrafluoride”. J. Am. Chem. Soc. 84 (18): 3593. doi:10.1021/ja00877a042. 
  4. ^ C. L. Chernick, H. H. Claassen, P. R. Fields 1, H. H. Hyman, J. G. Malm, W. M. Manning, M. S. Matheson, L. A. Quarterman, F. Schreiner, H. H. Selig, I. Sheft, S. Siegel, E. N. Sloth, L. Stein, M. H. Studier, J. L. Weeks, and M. H. Zirin (1962). “Fluorine Compounds of Xenon and Radon”. Science 138 (3537): 136–138. doi:10.1126/science.138.3537.136. PMID 17818399. 
  5. ^ Thomas H. Brown, E. B. Whipple, and Peter H. Verdier (1963). “Xenon Tetrafluoride: Fluorine-19 High-Resolution Magnetic Resonance Spectrum”. Science 140 (3563): 178. doi:10.1126/science.140.3563.178. PMID 17819836. 
  6. ^ James A. Ibers and Walter C. Hamilton (1963:). “Xenon Tetrafluoride: Crystal Structure”. Science 139 (3550): 106–107. doi:10.1126/science.139.3550.106. PMID 17798707. 


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