点状解析とは? わかりやすく解説

点状解析

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/03/20 04:34 UTC 版)

イブン・ハイサム」の記事における「点状解析」の解説

彼の理論的な分析で鍵になったのは点状解析(point analysis) で、これは発光体やそれに照らされ物体表面各点から全方向一様に光が放出され眼の受光部各点感知されるとする。また、明るさ光線密度比例するとするとする。 この理論一つ著し成果カメラ・オブスクラ(ピンホールカメラ)ある。古代から、穴の形が映される像にほとんど影響しないことが難問してして指摘されていたが、それに明快な答え出したのがイブン・ハイサムの『日食の形について』という論考である。本書が伝わらなかった欧州ではこの問題扱い当初迷走しイブン・ハイサム水準到達したのは、1617世期のケプラーやマウリョリコであった

※この「点状解析」の解説は、「イブン・ハイサム」の解説の一部です。
「点状解析」を含む「イブン・ハイサム」の記事については、「イブン・ハイサム」の概要を参照ください。

ウィキペディア小見出し辞書の「点状解析」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。 お問い合わせ



英和和英テキスト翻訳>> Weblio翻訳
英語⇒日本語日本語⇒英語
  

辞書ショートカット

すべての辞書の索引

「点状解析」の関連用語

点状解析のお隣キーワード
検索ランキング

   

英語⇒日本語
日本語⇒英語
   



点状解析のページの著作権
Weblio 辞書 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
ウィキペディアウィキペディア
Text is available under GNU Free Documentation License (GFDL).
Weblio辞書に掲載されている「ウィキペディア小見出し辞書」の記事は、Wikipediaのイブン・ハイサム (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。

©2024 GRAS Group, Inc.RSS