テスト対象デバイス
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出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2023/12/30 13:33 UTC 版)
テスト対象デバイス (テストたいしょうデバイス、英: device under test、DUT)とは、継続的な機能試験や較正を行う対象の機器のこと。試験は出荷前に行われることも、出荷後の製品ライフサイクルの後の方、つまり機器が元々の製品仕様に従って機能していることを確認するための、修理後に行われる試験の場合もある。
別の呼び方には業界によってさまざまな変種がある。以下は一例。
- DUT (Device under test) - 被試験デバイス、検査対象機、試験中の装置、被試験体、被検体、被測定物、測定対象
- EUT (Equipment under test) - 被試験機器
- UUT (Unit under test) - 被試験ユニット
電子機器の試験
エレクトロニクス業界では、DUTはテスト中の電子アセンブリのことである[1][2]。 たとえば、組立ラインから出てきた携帯電話は、個々のチップが以前に試験されたのと同じ方法で最終試験を受ける。この場合、試験対象の各携帯電話のことをDUTと呼ぶ。
回路基板の場合、DUTはポゴピンのネイルテスターのベッドを使用して試験装置に接続される。
半導体試験
半導体試験では、試験対象のデバイスとは、ウェーハ上のダイ、または結果として得られるパッケージ部品のことである。接続システムが使用され、部品を自動または手動の試験機器に接続する。次に、試験機器は部品に電力を供給し、刺激信号を供給してから、デバイスからの出力を測定および評価する。このようにして、テスターは、試験対象の特定のデバイスがデバイスの仕様を満たしているかどうかを判断する。
自動試験装置（ATE）は、ウェーハとしてパッケージ化されている間、一連の微細なピンを使用して個々のユニットに接続する。チップを切断してパッケージ化すると、テスト機器はZIFソケット（コンタクタと呼ばれることもある）を使用してチップに接続する。
関連項目
- 自動試験装置
- DUTボード
- 製品テスト
- テスト対象システム
- テストベンチ
脚注
- ^ “Performance Test Terminology for EtherNet/IP Devices”. Odva.org. EtherNet/IP Implementors Workshop ODVA (2005年3月14日). 2019年8月30日閲覧。
- ^ “What is a Device Under Test (DUT)? - Definition from Techopedia” (英語). Techopedia.com. 2019年8月30日閲覧。
検査対象
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/04/16 02:35 UTC 版)
特急用車両の全てと、東花園車庫・西大寺車庫所属の奈良線・京都線車両、高安車庫・明星車庫所属の大阪線車両、富吉車庫・明星車庫所属の名古屋線車両、東生駒車庫所属のけいはんな線車両、古市車庫所属の南大阪線一般車両の全般検査・重要部検査を行う。2014年現在近鉄が保有する1,969両のうち1,922両（98%）が検査対象となる。 南大阪線の車両は狭軌のため、橿原神宮前駅構内に設けられた台車振替場で台車を標準軌の仮台車に履き替え、狭軌用台車は電動貨車に積み込まれ、電動貨車の牽引で入場する。また、けいはんな線用車両は第三軌条方式のため、第三軌条用の集電装置を台車から取り外し、自走不可能となるため、やはり電動貨車の牽引で入場する。 なお、子会社の四日市あすなろう鉄道（内部・八王子線）、養老鉄道・伊賀鉄道の車両については、塩浜検修車庫で検査される。かつては名古屋輸送統括部（現・名古屋統括部）所属の一般車のうち大阪線の急勾配区間を通過できない抑速制動未設置車両も同検修車庫で検査を受けていたが、2012年度より本線系の全般検査・重要部検査が五位堂検修車庫に集約されたため、これらの車両も五位堂検修車庫で検査を受けるようになった。なお、五位堂検修車庫への回送のさい、これらの車両は大阪線の33‰下り勾配区間で速度制限が行われる。
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