磁場をかけた時の飛跡とは? わかりやすく解説

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磁場をかけた時の飛跡

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2020/01/23 14:22 UTC 版)

霧箱」の記事における「磁場をかけた時の飛跡」の解説

磁場のある状態の中を荷電粒子通過すると、粒子ローレンツ力受けて進む向き曲げられるこの様子を霧箱観測すると、粒子進んだ道筋曲線となって見える。この曲線曲率半径をρ[m]、磁場をH[T]、粒子の運動量をp[MeV/c]とすると、 p = 300 H ρ {\displaystyle p=300H\rho \,\!} の関係がある。そのため、曲率半径測定することで粒子の運動量が求められるまた、曲がった向きによって粒子電荷正負判別できる。ただし、通常の霧箱写真では、放射線進行方向分からないため曲がった向き判断できない。そこで、霧箱中に鉛の板を入れて観測する方法とられることがある粒子は鉛の板を通り抜ける運動量減少する上の式より、運動量減少する曲率半径小さくなる、すなわち曲がりやすくなるため、鉛板前後飛跡曲率調べることで、放射線進行方向判別できる

※この「磁場をかけた時の飛跡」の解説は、「霧箱」の解説の一部です。
「磁場をかけた時の飛跡」を含む「霧箱」の記事については、「霧箱」の概要を参照ください。

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