不良率増加
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/11/11 17:10 UTC 版)
「I/O コントローラー・ハブ」の記事における「不良率増加」の解説
2004年の中盤以降、大手のマザーボードメーカーはICH5を備えたマザーボードの不良率が増加していることに気が付いていた。原因は、あるICH5のステッピングで静電気耐性が不十分になっていたことである。特に、PCケースのフロントパネル側でUSBデバイスを接続した場合、USBコネクタを囲む樹脂製ベゼルに蓄積された静電気の放電によってICH5が故障した（PCケースの背面に設けられたUSBコネクタでは周囲がむき出しの金属（鈑金）であり樹脂製ベゼルで化粧されていることは稀で、帯電することは多くなかった）。インテルは静電気耐性を向上したICH5を出荷することで問題に対応した。未対策ICH5への後付け対策はサージ防護部品をUSBポートに追加することであるが、この電子部品はUSB 2.0の高速信号の波形を歪ませ（鈍（なま）らせ）通信品質を落とす。通信品質低下に加えてコストも掛かるため、多くのマザーボードメーカーはこの後付け対策を省略した。
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