マッタウフ・ヘルツォーク型とは? わかりやすく解説

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マッタウフ・ヘルツォーク型

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2019/01/13 14:08 UTC 版)

セクター型質量分析計」の記事における「マッタウフ・ヘルツォーク型」の解説

マッタウフ・ヘルツォーク型は 31.82° ( π / 4 2 {\displaystyle \pi /4{\sqrt {2}}} ラジアン) の静電セクターと、曲率方向が逆の 90° の磁気セクターから成る最初に電荷によって並んでいるイオン磁場下に入射するエネルギー収束効果生じ標準的なエネルギーフィルタよりも高い放射を得ることができる。この構成生成イオンエネルギー範囲広く精度ある程度必要とされる用途例えスパーク質量分析法 (SSMS) や二次イオン質量分析法 (SIMS) などでよく用いられる。この構成ニーア・ジョンソン型よりも優れている点は、異な質量イオンでも全て同じ平面上に収束する点である。これにより、写真乾板もしくは平面検出器アレー用いることができる。

※この「マッタウフ・ヘルツォーク型」の解説は、「セクター型質量分析計」の解説の一部です。
「マッタウフ・ヘルツォーク型」を含む「セクター型質量分析計」の記事については、「セクター型質量分析計」の概要を参照ください。

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Weblio辞書に掲載されている「ウィキペディア小見出し辞書」の記事は、Wikipediaのセクター型質量分析計 (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。

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