ワーキングメモリへのテストとは? わかりやすく解説

Weblio 辞書 > 辞書・百科事典 > ウィキペディア小見出し辞書 > ワーキングメモリへのテストの意味・解説 

ワーキングメモリへのテスト

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/06/13 05:00 UTC 版)

二重過程理論」の記事における「ワーキングメモリへのテスト」の解説

De Neysは三段論法問題答える間のワーキングメモリの容量操作する研究行った。この研究メインプロセス二次的なタスク与えることで行われた結果システム1正し反応起こすとき、妨害するタスクシステム1自動的にワーキングメモリから独立して動作して事実整合する正し答えを出すのにまったく影響与えないことを示した。しかし、信念バイアスがあるとき、(システム1信念バイアスによる反応システム2による論理的に正し反応とは異なる)参加者パフォーマンス利用可能ワーキングメモリ減少により妨害された。システム1ワーキングメモリから独立していることが示されており、システム2ワーキングメモリスペースないとうまく働かずその場システム1による信念バイアスに至ることから、実験結果二重過程推論対すシステム1システム2による説明整合的である。

※この「ワーキングメモリへのテスト」の解説は、「二重過程理論」の解説の一部です。
「ワーキングメモリへのテスト」を含む「二重過程理論」の記事については、「二重過程理論」の概要を参照ください。

ウィキペディア小見出し辞書の「ワーキングメモリへのテスト」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。 お問い合わせ



英和和英テキスト翻訳>> Weblio翻訳
英語⇒日本語日本語⇒英語
  

辞書ショートカット

すべての辞書の索引

「ワーキングメモリへのテスト」の関連用語

1
二重過程理論 百科事典
4% |||||

ワーキングメモリへのテストのお隣キーワード
検索ランキング

   

英語⇒日本語
日本語⇒英語
   



ワーキングメモリへのテストのページの著作権
Weblio 辞書 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
ウィキペディアウィキペディア
Text is available under GNU Free Documentation License (GFDL).
Weblio辞書に掲載されている「ウィキペディア小見出し辞書」の記事は、Wikipediaの二重過程理論 (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。

©2025 GRAS Group, Inc.RSS