データ保持能力とは? わかりやすく解説

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データ保持能力

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/06/17 09:45 UTC 版)

相変化メモリ」の記事における「データ保持能力」の解説

フラッシュメモリ用いられるフローティングゲートは、時間とともにリークしてしまい、故障データ破損引き起こす。フローティングゲートに注入する電子の数を精密に制御することで、フラッシュメモリは多値情報1つセル記録することができる。実際、それによってメモリ密度を2倍にし、コスト下げている。 一方PCMでは、メモリ抵抗要素比較安定である。85動作温度で、300年データ保持が可能であるとされている。PCM基本的には1セル1ビットしか記録できないが、近年Intel社はこの問題解決しつつある。 フラッシュメモリデータ記憶の際に電子トラップしているため、放射線によってデータ破壊されやすく、それ故航空宇宙機や軍事的な用途としては用いられない。その点、PCM放射線に対して耐性がある。

※この「データ保持能力」の解説は、「相変化メモリ」の解説の一部です。
「データ保持能力」を含む「相変化メモリ」の記事については、「相変化メモリ」の概要を参照ください。

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