透過電子顕微鏡基本用語集 |
 
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状態密度
【英】：density of states
単位体積あたり、エネルギー帯の単位エネルギー幅あたりに存在する電子状態の数。伝導帯のは、高いエネルギー分解能のEELSによって調べることができる(熱電界放出型電子銃を搭載した透過電子顕微鏡で1eV以下、冷陰極電界放出型電子銃では約0.3eV)。価電子帯のは、入射電子線によって試料から発生するX線を分光する(XES)ことによって得られる。このとき、エネルギー分解能を1eV以下にすることが必要である。最近開発された波長分散型X線分光(WDS)では、約0.5eVの分解能で価電子帯のを得ることができる。
単位体積あたり、エネルギー帯の単位エネルギー幅あたりに存在する電子状態の数。伝導帯のは、高いエネルギー分解能のEELSによって調べることができる(熱電界放出型電子銃を搭載した透過電子顕微鏡で1eV以下、冷陰極電界放出型電子銃では約0.3eV)。価電子帯のは、入射電子線によって試料から発生するX線を分光する(XES)ことによって得られる。このとき、エネルギー分解能を1eV以下にすることが必要である。最近開発された波長分散型X線分光(WDS)では、約0.5eVの分解能で価電子帯のを得ることができる。
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状態密度
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2011/11/28 10:51 UTC 版)
状態密度（じょうたいみつど、Density of states、略称 DOS）は、量子力学の微視的な状態があるエネルギー範囲にどれだけあるかを表す。状態数をエネルギーで微分したものと定義される。固体のマクロな物理量の期待値は、状態密度に物理量をかけてエネルギーで積分することにより計算できる。
[続きの解説]
「状態密度」の続きの解説一覧
- 1 状態密度とは
- 2 状態密度の概要
- 3 フォノン状態密度D(ω)の表式：三次元
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