走査型トンネル顕微鏡とは? わかりやすく解説

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そうさがたトンネル‐けんびきょう〔‐ケンビキヤウ〕【走査型トンネル顕微鏡】


走査型トンネル顕微鏡


走査型トンネル顕微鏡

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2024/06/27 17:54 UTC 版)

走査型トンネル顕微鏡(そうさがたトンネルけんびきょう、Scanning Tunneling Microscope(STM))は1982年ゲルト・ビーニッヒ(G. Binnig)とハインリッヒ・ローラー(H. Rohrer)によって作り出された実験装置であり、走査型プローブ顕微鏡の一形式である。非常に鋭く尖った探針導電性の物質の表面または表面上の吸着分子に近づけ、流れるトンネル電流から表面の原子レベルの電子状態、構造など観測するもの。トンネル電流を使うことからこの名がある。


  1. ^ C. F. Quate, Physics Today, 8, 26 (1986)
  2. ^ G. Binning et al., Phys. Rev. Lett., 27, 922 (1982)
  3. ^ US4,343,993[1] Priority number(s): CH19790008486 19790920, Also published as: EP0027517 (A1) EP0027517 (B1) CH643397 (A5) [2]


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走査型トンネル顕微鏡

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/02/25 09:27 UTC 版)

トンネル効果」の記事における「走査型トンネル顕微鏡」の解説

ゲルト・ビーニッヒハインリッヒ・ローラーにより発明された走査型トンネル顕微鏡 (STM) は、金属表面個々原子判別できる画像撮像できる。これは量子トンネル確率位置依存する性質利用したのであるバイアス電圧掛けたSTM針の針先伝導体表面近付くと、針から表面へと電子トンネリングし、これを電流として計測することができる。この電流により、針と表面の距離を計測できる圧電素子印加する電圧制御して、針が表面一定距離を保つように伸び縮みさせることができる。圧電素子印加した電圧時間変化記録すれば、表面の像を得ることができる。STM精度は 0.001 nm、すなわち原子直径1% に及ぶ。

※この「走査型トンネル顕微鏡」の解説は、「トンネル効果」の解説の一部です。
「走査型トンネル顕微鏡」を含む「トンネル効果」の記事については、「トンネル効果」の概要を参照ください。

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