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多分割測光

読み方：たぶんかつそっこう
別名：評価測光，多分割評価測光，マルチパターン測光
【英】multi-zone metering

多分割測光とは、カメラの自動露出（AE）に用いられる測光機能で、写る部分を複数に分割して全体的な露出を決定する機能のことである。キヤノンでは「評価測光」、ニコンでは「マルチパターン測光」と呼んでいる。

多分割測光では複数に分割された露光センサーでそれぞれの光量を測定し、各エリアごとに計測された露出を全体的に評価して最適な露出を算出するようになっている。画面をどのように分割するか、測光結果をどのように評価するかといった仕組みは、メーカーや機種によって様々に異なる。

多分割測光は画面全体を考慮して露出を決定するので、どのような被写体でも、また被写体に大きな明暗差があっても、適正露出が得られやすいという利点がある。ただし露出の決定には複雑なアルゴリズムが用いられており、撮影者には露光が予想しにくい。

自動露出方式の種類としては、多分割測光の他に、画面中央部の被写体に特に露出を合わせる「中央部重点測光」や、コントラストの強い画面の一部分に特に露出を合わせる「スポット測光」などがある。

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多分割測光

読み方：たぶんかつそっこう

ファインダー画面に対応する受光素子を何分割かに分け、それぞれ独立して測光し、その測光値を演算処理して適正露出を決める方式。演算処理する場合、あらかじめ決められたプログラム（アルゴリズムという）を参照しながらシーン別に適正露出を決める。自動露出において露出補正なしで適正露出を得ることを目的に開発された。第1回カメラグランプリを受賞したニコンFAが初めて「マルチパターン測光」を採用した。その後、AF一眼レフの流行とともに、多分割測光は常識化し、いまではほとんどの一眼レフにこの多分割測光が入り、分割数も飛躍的に増えている。
→ スポット測光 ／ 中央重点測光 参照