導波管において
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/02/21 07:36 UTC 版)
ファイバー光学においても後方散乱法は光学欠陥の検出に用いられている。光ファイバーケーブルを通って伝播する光はレイリー散乱により徐々に減衰していく。よって、レイリー後方散乱された光の変化を監視することにより欠陥を検知することができる。後方散乱された光は光ファイバーケーブルを通るにつれて指数関数的に減衰（英語版）するので減衰特性は対数スケールのグラフで表現できる。グラフの傾きが急であれば、パワー損失が大きいことを示す。傾きが緩い場合は光ファイバーが十分な損失特性を持っているといえる。 後方散乱法による損失計測は光ファイバーケーブルを切断することなく片側のみから行えるので、光ファイバーの構築と維持管理上便利である。
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