ピーム
略語：PEEM
【英】：photo emission electron microscope
紫外線または真空紫外線を表面に照射することによって、発生する光電子(photo electron)を使って像を形成する顕微鏡。試料で発生した光電子は試料直上の加速電場(界浸レンズとして作用)で加速される。この電場は対物レンズとして作用する。後段には結像レンズ系が配置され、スクリーンもしくはCCD等の撮像カメラによって拡大像を観察する。光電子像強度は試料の仕事関数と励起光の波長に依存するので、適当な励起波長を選ぶことによって試料の表面原子の電子状態に敏感な像を得ることでき、表面構造に起因したコントラストを得ることが可能である。通常は清浄表面の情報を得るために用いられので、試料周りは超高真空に保たれる。さらに、電子状態についての詳細な情報を得るために、発展形としてイメージングフィルタによって光電子のエネルギー選別をすることも行われている。また、結像系が同一な低エネルギー電子顕微鏡(LEEM(low energy electron microscope))にPEEMの機能が付加されていることが多い。
【英】：photo emission electron microscope
紫外線または真空紫外線を表面に照射することによって、発生する光電子(photo electron)を使って像を形成する顕微鏡。試料で発生した光電子は試料直上の加速電場(界浸レンズとして作用)で加速される。この電場は対物レンズとして作用する。後段には結像レンズ系が配置され、スクリーンもしくはCCD等の撮像カメラによって拡大像を観察する。光電子像強度は試料の仕事関数と励起光の波長に依存するので、適当な励起波長を選ぶことによって試料の表面原子の電子状態に敏感な像を得ることでき、表面構造に起因したコントラストを得ることが可能である。通常は清浄表面の情報を得るために用いられので、試料周りは超高真空に保たれる。さらに、電子状態についての詳細な情報を得るために、発展形としてイメージングフィルタによって光電子のエネルギー選別をすることも行われている。また、結像系が同一な低エネルギー電子顕微鏡(LEEM(low energy electron microscope))にPEEMの機能が付加されていることが多い。
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