低角度散乱暗視野法（ラーディフステム）
略語：LAADF-STEM
【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy
走査透過電子顕微鏡法（STEM）の環状検出器による暗視野法(ADF)のうち、低角度(25〜50mrad)に回折した電子や非弾性散乱電子を検出して走査透過像を形成する手法。一般には、この手法で得られる像は回折コントラストや試料の厚さの違いなどが反映される。応用例として、HAADF法では、軽元素のみで構成されている分子結晶、高分子や生物などの有機物の場合、高散乱角での弾性、非弾性の電子散乱強度が弱いため充分な信号強度を得られない。このような軽元素試料にLAADF法を適用すると、通常のHAADF像と類似して、原子番号に依存した高分解能の像をS/N比良く得ることができる。
【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy
走査透過電子顕微鏡法（STEM）の環状検出器による暗視野法(ADF)のうち、低角度(25〜50mrad)に回折した電子や非弾性散乱電子を検出して走査透過像を形成する手法。一般には、この手法で得られる像は回折コントラストや試料の厚さの違いなどが反映される。応用例として、HAADF法では、軽元素のみで構成されている分子結晶、高分子や生物などの有機物の場合、高散乱角での弾性、非弾性の電子散乱強度が弱いため充分な信号強度を得られない。このような軽元素試料にLAADF法を適用すると、通常のHAADF像と類似して、原子番号に依存した高分解能の像をS/N比良く得ることができる。
低角度散乱暗視野法（ラーディフステム）
略語：LAADF-STEM
【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy
走査透過電子顕微鏡法（STEM）の環状検出器による暗視野法(ADF)のうち、低角度(25〜50mrad)に回折した電子や非弾性散乱電子を検出して走査透過像を形成する手法。一般には、この手法で得られる像は回折コントラストや試料の厚さの違いなどが反映される。応用例として、HAADF法では、軽元素のみで構成されている分子結晶、高分子や生物などの有機物の場合、高散乱角での弾性、非弾性の電子散乱強度が弱いため充分な信号強度を得られない。このような軽元素試料にLAADF法を適用すると、通常のHAADF像と類似して、原子番号に依存した高分解能の像をS/N比良く得ることができる。
【英】：low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy
走査透過電子顕微鏡法（STEM）の環状検出器による暗視野法(ADF)のうち、低角度(25〜50mrad)に回折した電子や非弾性散乱電子を検出して走査透過像を形成する手法。一般には、この手法で得られる像は回折コントラストや試料の厚さの違いなどが反映される。応用例として、HAADF法では、軽元素のみで構成されている分子結晶、高分子や生物などの有機物の場合、高散乱角での弾性、非弾性の電子散乱強度が弱いため充分な信号強度を得られない。このような軽元素試料にLAADF法を適用すると、通常のHAADF像と類似して、原子番号に依存した高分解能の像をS/N比良く得ることができる。
- low-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopyのページへのリンク
