全蛍光(発光)収量法
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2022/02/09 06:21 UTC 版)
「X線吸収分光法」の記事における「全蛍光(発光)収量法」の解説
X線の照射によって引き起こされる、X線領域の発光の全強度を測定する方法である。発光の検出には、MCP（マイクロチャンネルプレート）やフォトダイオードなどが用いられる。前述した電子の場合と比較すると物質中での透過率が高いため、一般的に物質の内部を観測することが可能である（学術誌等においては「バルク敏感」であると表現されている）。発光の強度は、ほぼ吸収係数に比例しているため、吸収スペクトルの測定が可能である。軟X線領域などの光の透過率が著しく低いエネルギー領域では、Saturation効果や自己吸収によって観測されるスペクトル形状にゆがみが生じることがあり、それらを回避する測定法や補正の方法が検討されている。
※この「全蛍光(発光)収量法」の解説は、「X線吸収分光法」の解説の一部です。
「全蛍光(発光)収量法」を含む「X線吸収分光法」の記事については、「X線吸収分光法」の概要を参照ください。
ウィキペディア小見出し辞書の「全蛍光収量法」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。 お問い合わせ。
- 全蛍光収量法のページへのリンク
