SIM像（走査イオン顕微鏡像） SIM image,scanning ion microscope image
- 走査イオン顕微鏡像の略語。集束イオンビームで試料を走査したとき放出される二次電子を信号として、可視化した像。組成コントラスト、結晶方位コントラストがSEM像に比べて強く現れる。またイオンと試料の相互作用は電子に比べて大きいため表面の情報が強く現れるが、イオンビーム径が大きいため、解像力はSEM像に比べて低い。SIM像（シム像）の組成コントラストはSEMの反射電子像とは違って、原子番号が小さいほど明るくなる。SIM像の結晶方位コントラストは電子チャンネリングコントラストと違って、加速電圧を変えてもほとんど変わらない。ただし、試料を傾斜するとコントラストが変わる。イオン照射による試料表面のエッチングが起こるので、長時間の観察はむずかしい。
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