全電子収量法とは? わかりやすく解説

全電子収量法

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2022/02/09 06:21 UTC 版)

X線吸収分光法」の記事における「全電子収量法」の解説

X線照射によって放出される電子総量検出することで吸収係数測定をおこなう方法X線照射によって放出される光電子加えてオージェ電子などの2次電子なども検出されているが、その総量はほぼ吸収係数比例しているため、吸収スペクトル測定が可能である。電子検出には、MCPマイクロチャンネルプレート)などが用いられるこの方法では、電子脱出深さが短いために物質表面発生した電子が主に検出されるため、得られる測定結果表面寄与強く反映する(学術誌においては表面敏感」と表現されていることが多い)。

※この「全電子収量法」の解説は、「X線吸収分光法」の解説の一部です。
「全電子収量法」を含む「X線吸収分光法」の記事については、「X線吸収分光法」の概要を参照ください。

ウィキペディア小見出し辞書の「全電子収量法」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。 お問い合わせ



英和和英テキスト翻訳>> Weblio翻訳
英語⇒日本語日本語⇒英語
  

辞書ショートカット

すべての辞書の索引

「全電子収量法」の関連用語

全電子収量法のお隣キーワード
検索ランキング

   

英語⇒日本語
日本語⇒英語
   



全電子収量法のページの著作権
Weblio 辞書 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
ウィキペディアウィキペディア
Text is available under GNU Free Documentation License (GFDL).
Weblio辞書に掲載されている「ウィキペディア小見出し辞書」の記事は、WikipediaのX線吸収分光法 (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。

©2025 GRAS Group, Inc.RSS