バーンインとは? わかりやすく解説

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バーンイン【burn-in】

読み方:ばーんいん

半導体チップなどの電子素子品質試験の一。温度電圧負荷をかけることで、初期不良検出する


バーンイン

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/11/23 03:25 UTC 版)

集積回路」の記事における「バーンイン」の解説

集積回路故障率一般的にバスタブカーブと呼ばれる確率分布に従う。バスタブカーブでは、使用開始直後に高い不良率を示す初期不良期間を経て、低い不良率を維持する偶発故障期間に移行する劣化加速する条件下で短時間集積回路動作させることでこの初期不良あぶり出す工程がバーンインである。バーンインであぶり出され初期不良次の品質検査によって取り除かれる具体的には、高温下で一定時間集積回路電流を流すことで劣化加速している。これは、劣化化学反応として捉えた場合劣化速度温度アレニウスの式の関係に従うとの考え方よるものである。

※この「バーンイン」の解説は、「集積回路」の解説の一部です。
「バーンイン」を含む「集積回路」の記事については、「集積回路」の概要を参照ください。

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