システムアタッチメント
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2017/03/06 17:49 UTC 版)
「ゴッセン (カメラ)」の記事における「システムアタッチメント」の解説
システムアタッチメント対応の露出計に機能を追加する。 ラボ（Lab ） - 引き伸ばし露出のための測光が可能になる。 メス・ゾンデ（Messe-Sonde ） - カメラのピントグラス上で測定することによりTTL測光が可能になる。 マイクロ（Micro ） - 顕微鏡撮影時の測光が可能になる。 レプロ（Repro ） - 複写時の測光が可能になる。 テレ（Tele ） - 7.5°、15°のスポット測光が可能になる。
※この「システムアタッチメント」の解説は、「ゴッセン (カメラ)」の解説の一部です。
「システムアタッチメント」を含む「ゴッセン (カメラ)」の記事については、「ゴッセン (カメラ)」の概要を参照ください。
ウィキペディア小見出し辞書の「システムアタッチメント」の項目はプログラムで機械的に意味や本文を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。
お問い合わせ。
- システムアタッチメントのページへのリンク
