レプリカ・セム法とは? わかりやすく解説

Weblio 辞書 > 辞書・百科事典 > 百科事典 > レプリカ・セム法の意味・解説 

レプリカ・セム法

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2021/11/26 16:48 UTC 版)

レプリカ・セム法は、考古学における研究方法のひとつ。石器土器の植物圧痕などをシリコーン樹脂を用いたレプリカ法によって試料化し、走査型電子顕微鏡を用いて観察する方法。セム(SEM)は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)を意味する。




「レプリカ・セム法」の続きの解説一覧



英和和英テキスト翻訳>> Weblio翻訳
英語⇒日本語日本語⇒英語
  

辞書ショートカット

すべての辞書の索引

「レプリカ・セム法」の関連用語

レプリカ・セム法のお隣キーワード
検索ランキング

   

英語⇒日本語
日本語⇒英語
   



レプリカ・セム法のページの著作権
Weblio 辞書 情報提供元は 参加元一覧 にて確認できます。

   
ウィキペディアウィキペディア
All text is available under the terms of the GNU Free Documentation License.
この記事は、ウィキペディアのレプリカ・セム法 (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、GNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。 Weblio辞書に掲載されているウィキペディアの記事も、全てGNU Free Documentation Licenseの元に提供されております。

©2024 GRAS Group, Inc.RSS