レプリカ・セム法の手順
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/11/26 16:48 UTC 版)
「レプリカ・セム法」の記事における「レプリカ・セム法の手順」の解説
レプリカ・セム法は土器圧痕の凹部にシリコーン樹脂を流し込みサンプルを作成し、サンプルの表面を走査型電子顕微鏡で観察することで検出された植物を同定する。比佐陽一郎はレプリカ・セム法による分析手法の手順を確立し、これによれば、まず圧痕が存在する土器を肉眼で観察して選定し、超音波洗浄器を用いて表面の洗浄を行う。土器圧痕の表面には印象剤を充填する前に離型剤を塗布し、土器の破損を防止する。圧痕土器の表面が転写されたレプリカは乾燥させた後に離脱し、レプリカに金属の蒸着を行った後で走査型電子顕微鏡を用いた観察を行う。
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