集積回路試験用のテストパターン
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2015/11/24 14:17 UTC 版)
「テストパターン」の記事における「集積回路試験用のテストパターン」の解説
大規模集積回路（LSI）の検査は試験すべき項目が多数に及ぶため、数千個から数十万個におよぶ生産量の製品を検査するためには、製造した集積回路チップを個々に検査するさいの検査時間の短縮が極めて重要である。このため、専用のLSIテスト機器（LSIテスタ）にテストパターンを与えて自動的に検査を行う。このためのテストパターンはLSIの機能の複雑さに応じて規模が増大する。このため、テストを効率化するために設計時に考慮する（テスト容易化設計）。
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