出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/06/28 15:01 UTC 版)
探触子から超音波（縦波）を垂直に伝播させ、その一部が内部の欠陥に反射して探触子に戻り欠陥を検知する、欠陥個所に当たらなかった超音波は材料の底面で反射して戻って底面エコーとして現れる。
※この「垂直探傷法」の解説は、「超音波探傷試験」の解説の一部です。
「垂直探傷法」を含む「超音波探傷試験」の記事については、「超音波探傷試験」の概要を参照ください。
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