レプリカ・セム法とは?

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レプリカ・セム法

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2017/01/05 06:22 UTC 版)

レプリカ・セム法は、考古学における研究方法のひとつ。石器土器の植物圧痕などをシリコーン樹脂を用いたレプリカ法によって試料化し、走査型電子顕微鏡を用いて観察する方法。セム(SEM)は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope)を意味する。




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