X線発光分光法
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2018/08/20 04:57 UTC 版)
X線発光分光法（Xせんはっこうぶんこうほう、X-ray Emission Spectroscopy: XES）は物質の電子状態を調べるために使われている手法である[1]。測定対象となる物質は、気体、固体、液体、溶液などと幅広い。
- ^ http://www.rada.or.jp/database/home4/normal/ht-docs/member/synopsis/040258.html
- ^ たとえば http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/apparatus/softxray_bunkoki.html
- ^ 山下 良之, 山本 達, 向井 孝三, 吉信 淳, 原田 慈久, 徳島 高, 高田 恭孝, 辛 埴, 赤木 和人, 常行 真司「軟X線吸収発光分光法によるSi02/Si界面電子状態のサイト選択的観測 (第24回表面科学講演大会論文特集(3))」、『表面科学』第26巻第9号、日本表面科学会、2005年9月、 514-517頁、 NAID 40006907366。
- ^ Y. Harada, M. Taguchi, Y. Miyajima, T. Tokushima, Y. Horikawa, A. Chainani, Y. Shiro, Y. Senba, H. Ohashi, H. Fukuyama, and S. Shin, J. Phys. Soc. Jpn. 78 (2009) 044802 http://jpsj.ipap.jp/link?JPSJ/78/044802/
- ^ 徳島高、原田慈久、辛埴「液体や溶液の価電子状態を元素選択的に観る : SPring-8軟X線ビームラインBL17SUにおける軟X線発光実験(実験技術)」、『日本物理學會誌』第63巻第11号、2008年11月5日、 852-857頁、 NAID 110006990273。
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