有効状態密度

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有効状態密度

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2023/01/27 14:14 UTC 版)

半導体において有効状態密度とは、伝導帯の電子密度や価電子帯の正孔密度を表すときに用いられる状態密度である。

半導体のキャリア密度

オレンジ：半導体の状態密度（上は伝導帯、下は価電子帯）、青：フェルミ分布、緑：キャリア密度（上は電子、下は正孔）

伝導帯 $E_{C}$

この節で示されている出典について、該当する記述が具体的にその文献の何ページあるいはどの章節にあるのか、特定が求められています。ご存知の方は加筆をお願いします。（2018年11月）

• B.L.アンダーソン、R.L.アンダーソン 著、樺沢宇紀 訳 『半導体デバイスの基礎』 上巻（半導体物性）、丸善出版、2012年、97-101頁。ASIN 462106147X。ISBN 978-4621061473。 NCID BB09996372。 OCLC 793577200。