格子欠陥

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出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/07/20 08:33 UTC 版)

観測法

格子欠陥を直接観測する方法としては以下がある。

走査プローブ顕微鏡: 鋭利に尖ったプローブを用いて、原子レベルで結晶表面の格子欠陥を直接観察し、構造、電子状態、反応機構などを解析できる。また、格子欠陥のマニピュレーションなども可能である。　
X線回折: 電子顕微鏡と同じく回折コントラストとして観測される。厚い試料で用いられ、欠陥密度の小さい場合に有効である。
光散乱: 欠陥近傍での光の屈折率の変化による光散乱を観察する。
電子スピン共鳴: 欠陥の不対電子による磁気共鳴の吸収を観察する。
カソードルミネッセンス、フォトルミネッセンス: 電流や光を欠陥に与えることで生じる発光を観察する。

格子欠陥研究を議論する研究会として、日本物理学会領域10 格子欠陥・ナノ構造分科が主催する格子欠陥フォーラムが毎年行われている。

「格子欠陥」の続きの解説一覧

格子欠陥と同じ種類の言葉

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