粒子線励起X線分析
出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』 (2016/03/05 20:28 UTC 版)
粒子線励起X線分析(りゅうしせんれいきエックスせんぶんせき、PIXE、Particle Induced X-ray Emission)とは、物質にイオンビームを照射して発生した特性X線を検出し、元素分析をする手法。
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