EI法
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EI法（EIほう）とは、質量分析法において、フラグメントイオンを発生させる方法の一つ。EIとは、Electron Impact（電子衝撃）またはElectron Ionization（電子イオン化）の略とされ、フィラメントから発生する熱電子を試料に照射してフラグメントイオンを発生させる方法である。他のイオン化法と比べて原理や装置が単純であることから、広い範囲に適用されている。
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EI（Electron Ionization、電子イオン化）法
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/04/10 09:45 UTC 版)
「質量分析法」の記事における「EI（Electron Ionization、電子イオン化）法」の解説
試料分子、あるいは原子に熱したフィラメントから放出される熱電子を衝突させることでイオン化する方法。主に1価の正イオンが生成するが、多価イオンの生成も確認される。最も簡単なため気体試料のイオン化法として広く普及しているが、試料がフラグメンテーションしやすいため得られるマススペクトルは複雑になる。適用できる分子量範囲は1～1000程。
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EI法
出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/04/20 06:28 UTC 版)
EI法は、特に有機分子の質量分析で広く使用されている。 M + e − ⟶ M + ∙ + 2 e − {\displaystyle {\ce {M{}+e^{-}->M^{+\bullet }{}+2e^{-}}}} M + e − ⟶ M + ∙ + 2 e − {\displaystyle {\ce {M{}+e^{-}->M^{+\bullet }{}+2e^{-}}}} M + e − ⟶ M + ∙ + 2 e − {\displaystyle {\ce {M{}+e^{-}->M^{+\bullet }{}+2e^{-}}}} 電子は陰極と陽極の間のアーク放電によって作成される。 原子物理学では、電子ビームイオン源（EBIS）を使用して、強力な電子ビームで原子に衝撃を与えて高荷電イオンを生成する。詳しい動作原理については、電子ビームイオントラップ（英語版）を参考のこと。
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