「SCANNING-PROBE MICROSCOPE」の意味や使い方わかりやすく解説 Weblio辞書

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エス‐ピー‐エム【SPM】

読み方：えすぴーえむ

《scanning probe microscope》⇒走査型プローブ顕微鏡

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走査型プローブ顕微鏡

(SCANNING-PROBE MICROSCOPE から転送)

出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2021/11/06 23:32 UTC 版)

走査型プローブ顕微鏡 (そうさがたプローブけんびきょう、Scanning Probe Microscope; SPM) は、プローブを用いた顕微鏡観察手法の総称である^[1]。先端を尖らせた探針を用いて、物質の表面をなぞるように動かして表面状態を拡大観察する。実際の例としては、表面を観察する際、微少な電流(トンネル電流)を利用する走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力を利用する原子間力顕微鏡(AFM)をはじめ、数多くの種類がある^[1]。

出典

^ ^a ^b ^c ^d 中本圭一「走査型プローブ顕微鏡の基礎と応用」『日本画像学会誌』第50巻第5号、日本画像学会、2011年、 432-438頁、 doi:10.11370/isj.50.432。

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2 走査型プローブ顕微鏡の概要
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